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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 87 3.8.5 三極管 (TO) 圖 127 ：三極管 元件所需檢測 框說明 演算法： CortMat ch 框 用途：檢測腳翹 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測空焊 演算法： OCV 框 用途：檢測錯件 演算法： Lead 框 用途：檢測腳 翹 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測空焊 演算法： Bridge …
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86 TR7700 SIII Series User Guide – Software
3.8.4 二極體、鉭質電容
圖 126：二極體、鉭質電容元件所需檢測框說明
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Ｐ
atMatch/ Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測極反
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TR7700 SIII Series User Guide – Software 87
3.8.5 三極管(TO)
圖 127：三極管元件所需檢測框說明
演算法：CortMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
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88 TR7700 SIII Series User Guide – Software
3.8.6 積體電路(IC)
圖 128：積體電路元件所需檢測框說明
演算法：OCV 或 OCR
框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｂridge 框
用途：檢測短路
演算法：Void 框
用途：檢測錫多或錫少