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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 143 圖 222 :元件屬性 視窗 鏡射複製:將已選擇的 檢測框依 X 或 Y 軸鏡射複製到另外一邊。 旋轉複製:依照指定的 角度對已選擇的檢測框進 行複製。 不測:選擇將不進行測 試的範圍。目前區分為檢 測框 ( 熱鍵 Q) 、此元件 ( 熱鍵 W) 、此類 型、距離等四種。 圖 223 :不測編輯…

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圖 221:檢測框屬性視窗
− 反向:將檢測結果以反向結果輸出。舉例來說,原本判定為”合格”的檢測結果
會變為”不合格” 的檢測結果。
− 特殊:將檢測框獨立設置,不跟著資料庫走,僅存在於該專案中。可選擇依本
身或者元件名稱。
− 演算法:顯示目前該檢測框的類型。
III. 元件屬性視窗

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TR7700 SIII Series User Guide – Software 143
圖 222:元件屬性視窗
鏡射複製:將已選擇的檢測框依 X 或 Y 軸鏡射複製到另外一邊。
旋轉複製:依照指定的角度對已選擇的檢測框進行複製。
不測:選擇將不進行測試的範圍。目前區分為檢測框(熱鍵 Q)、此元件(熱鍵 W)、此類
型、距離等四種。
圖 223:不測編輯視窗
取消不測:將不進行測試的屬性範圍恢復進行測試。目前區分為檢測框(熱鍵 Ctrl+Q)、
此元件(熱鍵 Ctrl+W)、此類型、距離等四種。

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圖 224:取消不測編輯視窗
重新命名類別:修改此類別名稱。
圖 225:[編輯-原圖模式]相關頁籤--一般編輯-重新命名類別
3D
圖 226:[編輯-原圖模式]相關頁籤-3D/高度
檢視器:開啟 3D 檢測元件功能。詳情請參閱 7.1。
高度
高度量測:量測高度使用,需搭配多角度鏡頭。此機種不能使用。
硬體
圖 227:[編輯-原圖模式]相關頁籤—硬體
相機:選擇不同方向的鏡頭進行檢測,對於此機型僅能使用上鏡頭。
燈光:選擇想要使用的光源。
圖 228:[編輯-原圖模式]相關頁籤—測試運行/檢視模式/變更
測試運行
此檢測框(熱鍵 D):顯示已選擇檢測框的測試結果。
此元件(熱鍵 F):顯示已選擇元件上所有檢測框的測試結果。