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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 145 此類別 ( 熱鍵 G) ：顯示與已選擇元 件同類別上所 有檢測框的 測試結果。此 用此功能會進 入微調畫面，詳細操作 請參閱 4.2 。 檢視模式 項目選擇 圖 229 ： [ 編輯 - 原圖模式 ] 相關頁籤 — 檢視 模式 — 項目 選擇 − 本體框 + 導腳框：顯示 本體框 + 導腳框。 …
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144 TR7700 SIII Series User Guide – Software
圖 224：取消不測編輯視窗
重新命名類別：修改此類別名稱。
圖 225：[編輯-原圖模式]相關頁籤--一般編輯-重新命名類別
3D
圖 226：[編輯-原圖模式]相關頁籤-3D/高度
檢視器：開啟 3D 檢測元件功能。詳情請參閱 7.1。
高度
高度量測：量測高度使用，需搭配多角度鏡頭。此機種不能使用。
硬體
圖 227：[編輯-原圖模式]相關頁籤—硬體
相機：選擇不同方向的鏡頭進行檢測，對於此機型僅能使用上鏡頭。
燈光：選擇想要使用的光源。
圖 228：[編輯-原圖模式]相關頁籤—測試運行/檢視模式/變更
測試運行
此檢測框(熱鍵 D)：顯示已選擇檢測框的測試結果。
此元件(熱鍵 F)：顯示已選擇元件上所有檢測框的測試結果。
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TR7700 SIII Series User Guide – Software 145
此類別(熱鍵 G)：顯示與已選擇元件同類別上所有檢測框的測試結果。此用此功能會進
入微調畫面，詳細操作請參閱 4.2。
檢視模式
項目選擇
圖 229：[編輯-原圖模式]相關頁籤—檢視模式—項目選擇
− 本體框+導腳框：顯示本體框+導腳框。
− 檢測框：顯示所有檢測框。
− 當前燈光檢測框：僅顯示當前燈光的檢測框。
− 搜尋範圍：顯示搜尋範圍。
− 連結：顯示連結關係。
− 處理後影像：顯示經影像模式處理後的情況。
− 同類別元件：顯示鄰近相同類別檢測框的本體框。
− 上鏡頭的父檢測框：在側面相機顯示上鏡頭可當定位的檢測框，此機種不適用。
− 不測的框：顯示設定為不檢測的檢測框。
− 高度映射圖：以灰階顯示元件的高度狀況，需搭配 3D 雷測才能使用。
變更
設為對位標記：將所選取的元件變更為對位標記。點選後會出現以下視窗，選擇[是]來
進行變動作。
圖 230：設為對位標記視窗
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146 TR7700 SIII Series User Guide – Software
5.3.11 資料庫
資料庫是用來記錄使用者針對每個元件所製作的檢測框與其相關參數。當往後製作新程式時，
使用者可以藉由載入先前已經製作好的資料庫檔案，來節省重新製作同類別元件檢測框的時間。
當使用者按下專案儲存按鈕時，系統會自動儲存元件資料庫到指定的目錄。預設的路徑是
C:\AOI\TRI_SYS_LIB，格式是.pkc。
圖 231：[編輯資料庫]相關頁籤
載入
此類別：可手動開啟資料庫來做搜尋。可依據名稱、導腳數量、本體大小、間距來搜
尋資料庫。
圖 232：元件資料庫視窗
全部：可將指定路徑的資料庫手動載入所有的元件資料庫。
匯出
此類別：匯出指定類別的資料庫。