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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 31 3 編輯元件資料庫 在前一個章節中，我們 已經介紹如何製作基本程 式的流程。 在這個章節， 我們將從檢 測框的原 理以及參數說明開始， 完整的介紹如何完成元件 資料庫的製 作。 3.1 資料庫編輯 介面 選擇 [ 元件 ] 頁籤 ( ) 後 ，資料庫編輯畫面會 出現如下圖所示，其包含 資料庫工 作列區、元件 …
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圖 38：設定定位座標 – 步驟 4
6) 點選滑鼠左鍵兩下原圖，系統會回到大圖模式，然後重複步驟 1 到 5 來增加另外兩個
對位座標。設定完成的對位標記將會在大圖模式下以綠色方格表示。
圖 39：設定定位座標 – 步驟 5
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3 編輯元件資料庫
在前一個章節中，我們已經介紹如何製作基本程式的流程。在這個章節，我們將從檢測框的原
理以及參數說明開始，完整的介紹如何完成元件資料庫的製作。
3.1 資料庫編輯介面
選擇[元件]頁籤( )後，資料庫編輯畫面會出現如下圖所示，其包含資料庫工作列區、元件
清單顯示區、權重(權重法)/色彩空間(Color Space)調整區、模組化資料庫、演算法參數調整區
與代料顯示/編輯區。
圖 40：資料庫編輯介面說明
權重(Weighting)/色彩空間
(Color Space)調整區
代料顯示編輯 區
資料庫工具列區
元件清單
顯示區
檢測條件設定
面板
元件原圖區
檢測框參數
設定面板
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3.2 製作元件資料庫
在資料庫編輯介面下，使用者主要有兩種方式來產生元件所需的檢測框。一種是直接套用模組
化資料庫(初學者建議使用)，一種是以手動方式一個一個增加檢測框。我們將分別說明如下：
套用模組化資料庫：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一
個元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。若要移動
到另外一個元件的原圖畫面，直接在元件清單顯示區點選另一個元件即可。另外，
若要回到大圖模式，在沒有 CAD 方格的地方點選滑鼠兩下即可。
圖 41：進入元件原圖
2) 點選 CAD 方格，並調整其大小與元件大小相符，如下圖所示。
點選滑鼠左
鍵兩下欲製
作檢測框的
元件