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Test Research, Inc. 32 TR7700 SIII Series User G uide – Software 3.2 製作元件資 料庫 在資料庫編輯介面下， 使用者主要有兩種方式來 產生元件所 需的檢測框。 一種是直接 套用模組 化資料庫 ( 初學者建議 使用 ) ，一種是以手動方式 一個一個增加檢 測框。我 們將分別說明如 下： 套用模組化資料庫： 1) 直接在元件清單顯示區 點選想要製作檢測框的元 件上按兩下…
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3 編輯元件資料庫
在前一個章節中，我們已經介紹如何製作基本程式的流程。在這個章節，我們將從檢測框的原
理以及參數說明開始，完整的介紹如何完成元件資料庫的製作。
3.1 資料庫編輯介面
選擇[元件]頁籤( )後，資料庫編輯畫面會出現如下圖所示，其包含資料庫工作列區、元件
清單顯示區、權重(權重法)/色彩空間(Color Space)調整區、模組化資料庫、演算法參數調整區
與代料顯示/編輯區。
圖 40：資料庫編輯介面說明
權重(Weighting)/色彩空間
(Color Space)調整區
代料顯示編輯 區
資料庫工具列區
元件清單
顯示區
檢測條件設定
面板
元件原圖區
檢測框參數
設定面板
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3.2 製作元件資料庫
在資料庫編輯介面下，使用者主要有兩種方式來產生元件所需的檢測框。一種是直接套用模組
化資料庫(初學者建議使用)，一種是以手動方式一個一個增加檢測框。我們將分別說明如下：
套用模組化資料庫：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一
個元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。若要移動
到另外一個元件的原圖畫面，直接在元件清單顯示區點選另一個元件即可。另外，
若要回到大圖模式，在沒有 CAD 方格的地方點選滑鼠兩下即可。
圖 41：進入元件原圖
2) 點選 CAD 方格，並調整其大小與元件大小相符，如下圖所示。
點選滑鼠左
鍵兩下欲製
作檢測框的
元件
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圖 42：調整檢測框與元件大小相符- Chip 元件
3) 點選”模組化資料庫”頁籤，會跳出如下圖的視窗。
圖 43：模組化資料庫