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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 37 圖 49 ：在同一排 產生多個導 腳框 13) 此時，再次選取上排所有 的導腳框後，點選 並選擇 X 軸，系統會在ＩＣ 元件的下方一排導腳上 產生導腳框。 圖 50 ：鏡射多個 導腳框 14) 接著，選取上下兩排所有 的導腳框，點選 並選擇 90 度，系統會在ＩＣ 元件的左右兩排導腳上 產生導腳框。
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9) 點選 並選擇 Y 軸，此時系統會在 IC 元件上排最右邊的導腳上也產生另外
一個導腳框。
圖 47：鏡射複製導腳框
10) 點選這兩個導腳框後，再次按下 。
11) 此時系統會自動跳出增加導腳框的視窗。輸入這兩個導腳框間總共要產生的導腳框數
量 (需包含已選擇的兩個導腳框)，然後按下”OK”。
圖 48：產生多個導腳框視窗
12) 系統會依照先前的設定，產生出導腳框。
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圖 49：在同一排產生多個導腳框
13) 此時，再次選取上排所有的導腳框後，點選 並選擇 X 軸，系統會在ＩＣ
元件的下方一排導腳上產生導腳框。
圖 50：鏡射多個導腳框
14) 接著，選取上下兩排所有的導腳框，點選 並選擇 90 度，系統會在ＩＣ
元件的左右兩排導腳上產生導腳框。
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圖 51：旋轉複製導腳框
15) 最後，同步驟 3)，點選”模組化資料庫”頁籤，並點選 ，系統會自動產生所
有的檢測框。
圖 52：套用 IC 模組資料庫