EasyOLP_V6.1中文说明书 - 第490页
13-12 lvswG}] lvswG}] 13.5. Defect History View 缺陷日志画面如下。 可以在缺陷日志画面上查询各时段的 作业线、 项目、 作业组的不良类型及发生不良 频率。 STEP1. Start Date and T ime/End Date and T ime ： 可以选择缺陷日志的查询作业的开 始日期与最终日期。
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Multi Line Monitoring(MLM)
Achievement Chart：表示作业线的整体元件废弃率的趋向。
该图可以针对每单位时间的目标生产量与实际生产量进行比较后显示出对于目
标量的作业实现率。显示在图上的周期(Achievement Board Chart Interval)可以
在SLM Option画面进行设定。
目标率 = (当前时刻的总生产量/当前时刻的总目标生产量) * 100%
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lvswG}]
13.5. Defect History View
缺陷日志画面如下。
可以在缺陷日志画面上查询各时段的作业线、项目、作业组的不良类型及发生不良
频率。
STEP1. Start Date and Time/End Date and Time：可以选择缺陷日志的查询作业的开
始日期与最终日期。
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Multi Line Monitoring(MLM)
STEP2. 选择需要查询的作业线、项目、作业组后单击<Show>键。
Inspect Board Count
生产后检查完毕的总电路板数
Inspect Array Count
生产后检查完毕的总阵列数(总电路板数 * 每个电路板的阵列)
Inspect Point
生产后检查完毕的总装贴点数(电路板的总数 * 每个电路板的装贴
点)
Defect Board Count
检查结果，发生不良的电路板的总数
Defect Array Count
检查结果，发生不良的总阵列数
Defect Point
检查结果，处于不良状态的总装贴点数
Defect Rate [Board/Array/Point]
Defect Rate可以根据Board、Array或Point选择不良率类型后查看
Board Defect：电路板不良率(不良电路板数量/整体生产电路板
数量)
Array Defect：阵列不良率(发生不良的阵列数量/整体的阵列生
产量)
Point Defect：装贴点不良率(不良装贴点数量/整体生产的装贴
点数量)