IPC CH-65B CHINESE.pdf - 第34页

3.5.2.1 成本 模 型的 历史 基于 设 备或者 清洗 剂 供 应 商 的成本 模 式 已形 成, 但 它 们通 常 不 完 整 ,仅包 括供 应 商 青睐 的工 艺 和 最 重 要的 竞争 对 手 ,而不 是 所有可能的 选择 。通 常这些 模型 只 能用 于 证明 购 买 新设 备 ,而不 是优 化制 造操作 的 经 济 情况 。 第一个出版的 互 动 模型 由 霍 利 斯 工程所 产生 ,包 括 清洗用的 皂 化 剂 、 纯…

100%1 / 215
清洗成本
溶剂排放的年用( + 溶剂量)* # 数*# 年工
处理/或者化学前处理发月//年的 *KW/Hr $成本
化和运 //年的 * $成本
它处理成本 的成本
水收可证和可证监测 $/ 可证和资本资、消耗 培训教育
处理的年
$
空⽓排放 参数
发性有化合VOC)的年排放
清洗溶剂的量 / * 3.78 / * 从排流失的清洗
排放许可证 $/可证
排放制装 $针洗,吸附介质或者热氧
发性有化合排放 排放清洗溶剂数/454克每 / 2000 /
排放制资资、消耗
培训教育
占地积参
总高
生产区的面积 (平
生产区的成本
吞吐 参数
清洗 在线或者批
清洗周 /分或者分/批
生产需 每日的板
涤过程中的输送带速度或者分
清洗机器的能力 机器下的每日
清洗设 # 清洗
经营总成本 参数
化学清洗的年 美元
工业卫生的年 美元
去离的年 美元
能源的年 美元
物处理的年 美元
排放的年 美元
排放的年 美元
总折 美元
清洗操作的年 美元
清洁/
人力, 标准工时 + 每日系统开支/ 美元
其它考虑 参数
减少噪音 环境
输送机或者升降 材料处理
使处理 材料处理
去离收效益 环利用有去离比排水或者
清洗的资化的成本 板材、SIR 测试 J-STD-001
20117 IPC-CH-65B-C
19
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3.5.2.1 成本型的历史 基于备或者清洗的成本已形成,们通,仅包
括供青睐的工要的竞争,而不所有可能的选择。通常这些模型能用证明
新设,而不是优化制造操作情况
第一个出版的模型工程所产生,包清洗用的水或者I型半水基清洗
30
它修使收集半水基清洗数据模型中并不包溶剂清洗数据
数据
3.5.2.2 成本型的价值 然而这些模型试焊接清洁度测试,其次以个清洗部
的成本为选择最佳工们一不会提一个包所有主要清洗方案模型。此
模型 动性将允许组装业者“填入个工的设和劳动成本,来定最佳的整体清洗工
3.5.2.3 未来⼯作 收集括今日所有使用的焊接清洗工可的动成本模型,其
目的确保它们在全球场保持成本竞争力来我们的业成员。这种对其
或者
3.6 什么是忽略清洗的成本 性电子产品需要的性能要求和微型密集
路的求。
8
密集电子组件的生产的一个威胁是枝长和金属化合可能
导致路。电子电路组件的可风险的研究报告出,这种无铅电子
9
电子创新的速度测试管理、标准制定机构给企业的
10
微型焊接材料上
新的准和挑战。
11
、通微导、三多层芯片
和节尺寸板和元器件的构造变精密焊点脆弱性。
12
能和小在创新的电路设计中表现出显著的动力。
7
复杂性小、
动而。为了置入更多的电路到一个小的件,的一必须尺寸
11
当封装件持小,然而一时尺寸输入/,电路板的
使设计元器件工程电路板等级改善性。清洗可能影响产品寿命和相关产品
性能的损失
3.6.1 ⽆铅焊接 无铅是破坏性的化,要在电子组装的元素元器
13
高输入/量、步微型化、的性能和其它需电路板的清洁
27
清洗无铅组件的关必须考虑减轻泄漏和电化学迁移的可风险
14
无铅制程的要求严格的工艺控制。
9
无铅较高焊接,会的清洗挑战。
过去工程助焊剂性、传送带速度或者加预热特高锡/
一个不问题。来自于一个明可能导致电路板
可能性。
一个无铅银铜窗口增了清洗的关性。着焊接
元器件的托高高
降低,可能不使洗工
9
果助焊剂焊接中发生氧或者碳化,电路板
量的子污染。在无铅高温期间,电路板层压膨胀并有吸收阻焊膜中污染风险这种
风险可能电化学和可问题
3.6.2 型化 无铅应用的要求,微型化对助焊剂的化学性
大挑战。
9
元器件的尺寸导体间距业中产生更多量。
15
问题自于具大设计密度
电路板金属迁移和表面绝缘降低
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微型化,往往导致润湿
11
尺寸不成导致润湿减少
尺寸容易使形,主要润湿更加困难立碑或者风险3.6.3
助焊剂化。
小的焊点将比大的焊点腐蚀
11
大了暴露面积使
大。从锡铅焊无铅焊问题化,于无铅焊
铅焊较高润湿性。
由降低封托高高使腐蚀减少材料腐蚀的能力。
16 & 28
成电路装的表面上
和污染的发生是因时的表面张力。
16 & 28
湿环境在电下,
过度离子污染在组件上可能问题。在60%相对湿,会到四个着水形
成污染,化学风险相对湿达到80%五到二
在表面上由流动。在上的水分和有腐蚀性电。此问题加起因于
的电路板线路、电路板密度更高的电
28
导体的电体间距反比
12
此,电化学迁移容易狭窄导体间距。电子产品成的耐受
削弱
11
线路路源长、导体或者绝缘损失
9
3.6.3 助焊剂的 无铅与各助焊剂化学的兼容性要的,并需确定处理
能力、保质期焊接能力,如锡润湿焊点外观的性能。
17
银铜无铅表现出不
佳的润湿能力。具活性的助焊剂化学实现与晶锡润湿
18
具活性的助焊
导致更多腐蚀助焊剂残留更多清洗工使用来合设计可性要求。
Lee
3
用了无铅免助焊组合特点
11
洗工的目标残留形成一个
电路子污染。然而,着焊接助焊剂材料经历物理和化学性
化,发性成发、表面能和熔融粘度
19
过去清洗组件,们不能
规定的污染限的风险这种系统更多残留,表面绝缘降低,并要的清洗。
使用在助焊剂的技术被充掌握
19
使用在无铅银铜较高
,有机溶剂必须具备热以降低焊接元器件所需活等级。一个关问题是热
性的具活性的助焊剂成份。使得所下的残留物
3.6.4 电⽓故障 制程、材料、制备变化时,电子组装业者使用表面绝缘SIR测试
行评估。表面绝缘定义是个电导体的电
20
表面绝缘一个系统
线或者线路表面路的能力。表面绝缘阻测试的性能到清洁
表面绝缘污染和污染的并值。
2
导体间或者导电性溶液
在会影响它的电较高的表面绝缘是因清洁的电路板不较低的值
于导或者在。
20
3.6.5 电化学迁移 电化学迁移是金属导体到一个时所
桥接
10
金属导体导体阴极一个的相导体阳极长,而
路。电化学迁移向金属成。
21
子污染合,成一个
部源,金属子。在电位的影下,金属穿间距成一个金属丝
染的组件清洁组件有大的风险
电化学迁移了一个量污染及其对组件可性的影方法
2
金属子,助焊
PCB材中,可能穿线或者线路。这些在电中的
子可能生自金属导体腐蚀或者清洗的电路板板。污染可能来PCB的制后续
或者腐蚀助焊剂清洗。研究确定,电化学迁移腐蚀成的
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