TR7500_Series_Software_ch-v6-3-0.pdf - 第240页
Test Research Inc. 228 TR7500SeriesUserGuide – Software 1) 分類選擇區 2) 分類區 3) 檢測窗表示區 4) 統計圖區 5) 門檻區 6) 設定區 7) 建議值表示區 8) 統計值區
Test Research Inc.
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z 欄位 0、90、180、270 表示此檢測框旋轉各角度後的檢測結果。
z NA 表沒有檢測。
z 在 Train Dialog 點選每一行，會移至那個檢測框所在的 FOV。
z 按右下角的檢測可針對所選的檢測框單獨檢測。
3.7.30 版本比較(VERSION COMPARE)
在同一個程式下，利用版本資訊比較出有差異的元件。
選擇比較的版本後，再按下[Compare]，在左列表中顯示了版本 3有檢測，但版本
test 沒有檢測的元件；右列表中顯示了版本 test 有測但版本 1 沒有檢測的元件。
3.7.31 離線調整模式(OFFLINE TUNE MODE)
利用多片板子檢測的結果在 Offline Machine 下進行資料的處理。在離線調整模式下
抓取影像時，影像將會存於以掃描時間為檔名的目錄之下。在離線調整模式下檢測
時，可以收集檢測資料。在關閉離線調整模式時，如果有檢測資料，則會顯示出統
計對話框。
視窗說明
Test Research Inc.
228 TR7500SeriesUserGuide–Software
1) 分類選擇區
2) 分類區
3) 檢測窗表示區
4) 統計圖區
5) 門檻區
6) 設定區
7) 建議值表示區
8) 統計值區
Test Research Inc.
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9) Set Passlevel 按鍵－把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。
10) View 按鍵－查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。
11) Inspect 按鍵－執行[Inspect Fov Images]，並重新載入統計資料以重新查看。
功能說明
Step1. 勾選[離線調整模式(Offline Tune Mode)]，之後將電路板進板，選擇
[Utilities\Capture Fov Images]以獲取該片電路板的 FOV 影像，之後再換下
一片電路板，再抓取其 FOV影像，依此類推，直到所需要的電路板影像都完
成取像為止。最後影像會儲存在 Project 所在目錄底下的[FovImage]目錄下，
其中一個子目錄儲存一整片板子的 FOV影像，擷取幾片板子的影像就會產生
幾個子目錄，目錄名稱為一組數字，用以代表掃描時的年月日時分秒。
Step2. 在離線調整模式下檢測時，可以收集檢測資料。當影像收集完畢以後，執行
[Inspection\Inspect Fov Images]。檢測後的結果值存在 Project目錄下面的
[statistic]目錄之下，其中的每一個檔案代表一片板子的檢測結果。
Step3. 在關閉離線調整模式時，如果有 Step 2 所提到的檢測資料，則會顯示出統計
對話框如圖。依圖示範例由分類選擇區看出該範例是以 Type與 Algorithm 進
行分類。
Step4. 分類區的最上面的[Usable:used,2497]表示目前有 2497 筆有效的檢測窗。而
一個有效的檢測窗被定義為，統計資料與 Project 都有該筆檢測窗。
[Usable:used,2497]的子節點為 Type 分類，如 T:74HC138D-SO16,32，其
中的 T代表元件型別，74HC138D-SO16 為型別名稱，32 代表有效的檢測窗
數量。T:74HC138D-SO16,32 的子節點為 Algorithm 分類，如 A:LEAD,16，
其中的 A 代表 Algorithm，LEAD為 Algorithm，16 為檢測窗數量。而使用者
選擇了 Usable:used,2497的子節點 T:74HC138D-SO16,32 下的節點
A:LEAD,16，其中的義意為要查看 74HC138D-SO16 這個型別的所有 LEAD
檢測窗的統計資料。
Step5. 在檢測窗表示區中表示了在該分類下的所有檢測窗，任選一個檢測窗，將會
跳到 Train Dia
log 下所對應的檢測窗。
Step6. 統計圖區展示了該分類下所有檢測窗的統計圖，因為在分類選擇區中
PassLevel 未被勾選，所以會依據 Algorithm取得內定對應的結果值以進行統
計。
Step7. 門檻區表示目前 Project 對應該分類下所有的門檻值。經由點選該值可以切換
顯示在統計圖區之中。