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Test Research Inc.  TR7500SeriesUserGuide – Software 229 9) Set Passlevel 按鍵-把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。 10) View 按鍵-查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。 11) Inspect 按鍵-執行 [Inspect Fov Images] ,並重新載入統計資料以重新查看。  功能說明 Step1. 勾選 [ …

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228 TR7500SeriesUserGuideSoftware
1) 分類選擇區
2) 分類區
3) 檢測窗表示區
4) 統計圖區
5) 門檻區
6) 設定區
7) 建議值表示區
8) 統計值區
Test Research Inc.
TR7500SeriesUserGuideSoftware 229
9) Set Passlevel 按鍵-把建議值設定到 Project 對應的分類下的檢測窗之中。
10) View 按鍵-查看檢測窗中的值與建議值相等的檢測窗。
11) Inspect 按鍵-執行[Inspect Fov Images],並重新載入統計資料以重新查看。
功能說明
Step1. 勾選[離線調整模式(Offline Tune Mode)],之後將電路板進板,選擇
[Utilities\Capture Fov Images]以獲取該片電路板的 FOV 影像,之後再換下
一片電路板,再抓取其 FOV影像,依此類推,直到所需要的電路板影像都完
成取像為止。最後影像會儲存在 Project 所在目錄底下的[FovImage]目錄下,
其中一個子目錄儲存一整片板子的 FOV影像,擷取幾片板子的影像就會產生
幾個子目錄,目錄名稱為一組數字,用以代表掃描時的年月日時分秒。
Step2. 在離線調整模式下檢測時,可以收集檢測資料。當影像收集完畢以後,執行
[Inspection\Inspect Fov Images]。檢測後的結果值存在 Project目錄下面的
[statistic]目錄之下,其中的每一個檔案代表一片板子的檢測結果。
Step3. 在關閉離線調整模式時,如果有 Step 2 所提到的檢測資料,則會顯示出統計
對話框如圖。依圖示範例由分類選擇區看出該範例是以 TypeAlgorithm
行分類。
Step4. 分類區的最上面的[Usable:used,2497]表示目前有 2497 筆有效的檢測窗。而
一個有效的檢測窗被定義為,統計資料與 Project 都有該筆檢測窗。
[Usable:used,2497]的子節點為 Type 分類,如 T:74HC138D-SO16,32,其
中的 T代表元件型別,74HC138D-SO16 為型別名稱,32 代表有效的檢測窗
數量。T:74HC138D-SO16,32 的子節點為 Algorithm 分類,如 A:LEAD,16
其中的 A 代表 AlgorithmLEADAlgorithm16 為檢測窗數量。而使用者
選擇了 Usable:used,2497的子節點 T:74HC138D-SO16,32 下的節點
A:LEAD,16,其中的義意為要查看 74HC138D-SO16 這個型別的所有 LEAD
檢測窗的統計資料。
Step5. 在檢測窗表示區中表示了在該分類下的所有檢測窗,任選一個檢測窗,將會
跳到 Train Dia
log 下所對應的檢測窗。
Step6. 統計圖區展示了該分類下所有檢測窗的統計圖,因為在分類選擇區中
PassLevel 未被勾選,所以會依據 Algorithm取得內定對應的結果值以進行統
計。
Step7. 門檻區表示目前 Project 對應該分類下所有的門檻值。經由點選該值可以切換
顯示在統計圖區之中。
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Step8. 設定區顯示使用者所設定的值,當使用者在統計圖區點選左鍵時,會把該對
應值設定到設定區之中,就跟門檻區一樣,經由點選該值可以切換顯示在統
計圖區之中。
Step9. 統計值區顯示了統計圖上的相關統計值。而且就跟門檻區一樣,經由點選該
值可以切換顯示在統計圖區之中。
Step10. 建議值表示區,不論是點選門檻區、設定區還是統計值區,上面點選的值都
會被設定一份到建議值表示區。當使用者點選 Set PasslevelView 時,都
會依據該值進行操作
3.7.32 設定傳至維修站的板號(S
ET BOARD NO TO RS)
在欲修改的圖上點選兩下,可修改其板號。