TR7500_Series_Software_ch-v6-3-0.pdf - 第371页
Test Research Inc. TR7500SeriesUserGuide – Software 359 新增瑕疵 (New Defect) – 在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩 下,可將方程式列在 [ 邏輯 ] 視窗中,接著在 [ 瑕疵 ] 中輸入欲給予的瑕疵名稱,再按下 [ 新增瑕疵 ] ,會出現確認視窗,確定無誤後按 [ 是 ] 即完成設定新瑕疵。若按 [ 否 ] 則不 會設定新瑕疵。 z …

Test Research Inc.
358 TR7500SeriesUserGuide–Software
刪除群組(Delete Group) – 在左方列表視窗中選擇欲刪除的項目,按下[刪除群組]即
可將之刪除。
刪除瑕疵(Del Defect) – 選擇瑕疵名稱後,點選[刪除瑕疵],系統會出現確認視窗,
確認後請按[是]就可以將它刪除,若按[否]則不會進行刪除的動作。

Test Research Inc.
TR7500SeriesUserGuide–Software 359
新增瑕疵(New Defect) – 在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩
下,可將方程式列在[邏輯]視窗中,接著在[瑕疵]中輸入欲給予的瑕疵名稱,再按下
[新增瑕疵],會出現確認視窗,確定無誤後按[是]即完成設定新瑕疵。若按[否]則不
會設定新瑕疵。
z 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框,則系統會詢問是否要將邏輯複製
到其他 IC腳上相對應的檢測框上,若有需要請按[是],系統將會出現視窗告知複
製了多少個邏輯,請按[確定]。

Test Research Inc.
360 TR7500SeriesUserGuide–Software
改變瑕疵(Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修
改的部分(瑕疵名稱或邏輯方程式),接著按下[改變瑕疵]會出現確認視窗,確認後按
下[是]即可改變瑕疵的設定,若按[否]則不會進行改變的動作。