TR7500_Series_Software_ch-v6-3-0.pdf - 第510页
Test Research Inc. 498 TR7500SeriesUserGuide – Software 檢測時間欄位 – 顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。 瑕疵板統計 (Fail Statistic) – 列出發生的瑕疵種類次數及百分比。 Fail Rank– 將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。 若在登錄檔中 ([ 開始 / 執行 ] 鍵入 [regedit] 後按 …
Test Research Inc.
TR7500SeriesUserGuide–Software 497
PPY Yield – (檢測為正常板數量+誤判的板數)/電路板總數*100%
PPY DPPM – [(確認為不良的元件數+誤判的元件數)/元件總數]*1000000
PPY DPMO – [(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上
總檢測框數)]*1000000
FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
FPY DPPM – [(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
FPY DPMO – [(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
# – 點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵板
數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將設定的
數字帶入統計結果欄位中。
Test Research Inc.
498 TR7500SeriesUserGuide–Software
檢測時間欄位 – 顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
瑕疵板統計(Fail Statistic) –列出發生的瑕疵種類次數及百分比。
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。
若在登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值
[SaveTop10FailImage]設定為 1 時，系統會儲存前 10 名不良元件上一次檢測為不
良的影像。可直接點選元件名稱，在 FOV影像區域檢視儲存的影像。
Test Research Inc.
TR7500SeriesUserGuide–Software 499
樹狀圖瑕疵列表 – 列出瑕疵元件的詳細錯誤內容。
元件名稱
(
類型
)
瑕疵種類
[
瑕疵參數
檢測分數
/
檢測參數
]
展開
檢測框名稱
瑕疵種類
[
瑕疵參數
檢測分數
/
檢測參數
]
不顯示統計結果(Disable Yield Count) – 不顯示出統計結果欄位
重置統計結果(Reset Yield Count) – 將統計結果欄位的數據歸零。
不顯示統計結果(Disable Fail Count) – 不顯示出瑕疵板統計欄位。