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6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4 6.7 Leitfaden zum Beschreiben vo n Gehäuseformen Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 D E 338 Wird das B auelemen t korrekt zentrie rt, kann a uf zusätzl iche M…
Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4 6 Visionfunktionen
Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
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6.7.3 Bauformen und mögliche Messmethoden zur Grob- und Feinzentrierung
6
Sind einer oder mehrere der Resultatwerte ausserhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt. 6
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead:
Kombinierte Aus-
wertefenster
Lead: Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letzten
Messschritts
PDC ohne Beinchen G/F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y, ∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit
langen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y,
(∆φ),
Qualität
FDC unregelmäßig
mit kurzen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit langen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit einer PIN-Reihe,
mehreren PIN-Model-
len oder Teilung
GG F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
FDCs mit kreisseg-
mentförmigen PIN-
Anordnungen
(G) G F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
∆X, ∆Y, (∆φ), Teilung,
Winkel, Qualität)
Tab. 6.7.1
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Wird das Bauelement korrekt zentriert, kann auf zusätzliche Messmethoden verzichtet werden.
Führen Sie dennoch alle Grobzentrierschritte aus, da diese die Messfenster verkleinern. 6
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
prüfen’ in den einzelnen Messschritten ohne Ausgabe der Messresultate durchgeführt.
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
messen’ in allen Messschritten mit Ausgabe von Messresultaten durchgeführt.
– Sind die Bauelemente größer als 32mm x 32mm, so wird automatisch eine Mehrfachmessung
im Visionsystem durchgeführt.
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6.7.4 GF-Testen - Optische Darstellung / Messarten programmieren
Im Menü ’BE testen’ wird ein abgeholtes Bauelement in seine 0°-Lage zur Kamera gebracht und
abgebildet. Am Revolverkopf wird das Bauelement in Bezug auf den Bestückwinkel dargestellt.6
6
Abb. 6.7 - 5 Reihenfolge, wie Gehäuseformen an der Station programmiert werden
Nein
Nein
Ja
Fehler
1. Handlingfehler: Abholwinkel
Pipettentyp, BE an Pipette ?
2. BE darstellen
3. Beleuchtung verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
5. BE-Dimension verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden
BE mehrmals bestücken
Meßvorgang wiederholen
und Meßergebnis prüfen
BE messen
BE messen
RETURN nächste Messung
Ergebnisse
konstant?
Ja