JX-100_使用说明书.pdf - 第410页

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 ② 正在进行单独检测的画面 在单独检测 过程中，显示如下画面。显示正在 进行单独检测 的元件的 内容及吸取 位置，并依 次显示进行中的 处理内容。 图 4-5-4-2-6 正在进行单独检测 要强行结束 检测 时，请按下 < 停止 > 开关，则 显示以下对 话框。请选择 是、否。 图 4-5-4-2-7 测量结束的确认 因元件的包装方 式而有所不同， 当元件尺寸在 1mm 以下时，…

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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用示教按钮或HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下示教按钮或HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4-5-4-2-4 正在示教（示教按钮时）
图 4-5-4-2-5 正在示教（HOD 时）
c) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目有所
不同。
设定结束后，单击单独检测的“检测”，进行单独测量。
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，并依
次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-6 正在进行单独检测
要强行结束
检测
时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4-5-4-2-7 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是放回、
或是废弃。
图 4-5-4-2-8 确认是否放回元件
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4-5-4-2-9 询问是否更新激光高度
图 4-5-4-2-10 询问是否更新芯片站立判定高度
●是
：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否
：忽略新测量值，使用原来的设定值。
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