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第 2 部 功能详细编 第 7 章 手动控制 4) 变幻线 下列 “变换线图 (纹条图) ” , 是通过激光单元测量 (SWEEP) 取得的数据所显示的元件轮廓图。 变换线可显示的 元件为方形芯片、方 形芯片( LED ) 、圆筒形芯片、 SOT 。 选中控制项目“ 变换线”时,可选择 “执行 (E) ”按钮,或按 “ F3 ”键控制 。 图 7-4-1-3-5 变换线显示 对话框 下面具体说明变 换线有关情况。 表 7-4-1-3-2…

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3)控制项目
通过按钮选择控制项目
7-4-1-3-4 控制项
4)窗口类型
按下按钮,选择测量时的窗口类型。
在控制项目中选择“测量(ONCE“测量(SWEEP以外的项目时,不能设置。
同时检测元件:设置的窗口尺寸范围,必须可容纳同时测量多个贴片头的元件。
(这些贴片头的吸嘴旋转中心±7.5mm
若要测量比该窗口尺寸更大的大型元件,请指定单独测量元件。
单独检测元件:设置的激光测量的窗口尺寸范围,必须可容纳最大尺寸的元件。
指定测量单独元件时,也使用其他贴片头的测量领域(窗口)。因此,其他贴
片头下降到激光的高度时,可能造成测量失败。测量前,务必检查,确认其他
贴片头没有降到激光测量的高度。
(5) 控制按钮
用控制按钮来执行控制。
控制按钮的显示因控制项目而异。
在控制结束时更新状态显示。
1) 真空
控制所选贴片头真空的开/关。
选中控制项目的“真空”时,选择“开(O)”按钮、“关(F)”按钮、“开/()”按钮
按“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
2) Z 轴调整
对所选贴片头Z轴坐标进行控制。
吸嘴吸取元件等时使用。
选中控制项目的Z轴调整”时,选择“上(U)”按钮、“(D)按钮、“上/()”按钮
或按“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
3) Z 轴微调
对所选贴片头Z轴坐标进行控制。
将吸取元件移动到激光测量高度时使用。
选中控制项目的“Z轴微调”时,选择“上(U)”按钮、“下(D)”按钮、“LA()”按
或按“F3”键、“F4”键、“F5”键进行控制。
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4) 变幻线
下列“变换线图(纹条图)是通过激光单元测量(SWEEP)取得的数据所显示的元件轮廓图。
变换线可显示的元件为方形芯片、方形芯片(LED、圆筒形芯片、SOT
选中控制项目“变换线”时,可选择“执行(E)”按钮,或按F3”键控制
7-4-1-3-5 变换线显示对话框
下面具体说明变换线有关情况。
7-4-1-3-2 变换线示例
变换线和激光高度
说明
激光高度适当。取得的元件形状正确。取得形状后激光
传感返回 SWEEP 识别结果。
元件上没有激光面,因得不到任何一个边界数据无法描
绘变换线,画面呈黑色。激光传感 SWEEP 败,回信息
为无元件错误。
激光高度在元件下面附近时,激光面遮盖不全有些边界
数据没有取得变换线形状变形,激光传感 SWEEP 识别失
败,返回错误信息。
激光高度在元件上面和吸嘴边界边缘时,同上面情况一
样,有的地方激光面遮盖不全,出现 SWEEP 失败。
激光高度只达到吸嘴尖端而未达到元件时,换线显示出
吸嘴尖端的形状
5) 测量(ONCE)
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对所选的贴片头进行激光测量(ONCE)
ONCE具有获得当前传感器拍摄的阴影信息的功能。测量结果显示在“状态”上。
(参见图7-4-1-3-1)
在选中控制项目的“测量(ONCE)”状态下,选择“执行(E)”按钮、或按“F3”键、“F5
键进行控制。
若是选择LA()按钮,会移动到该贴片头的前端(元件已被吸取时则在元件下面)的
高度。
6) 测量(SWEEP)
对所选择的贴片头进行激光测量(SWEEP)
SWEEP有在检测区域内旋转对象物体,计算出元件的吸取偏移、角度偏移、尺寸的功能。
激光单元根据“元件形状”复选框指定的元件形状,取得的数据进行分析,计算所测量的
结果。
测量结果在状态中显示。(参见图7-4-1-3-1)
选中控制项目的“测量(SWEEP)”时,选择“执行(E)”按钮、或按下F3”键进行控制。
若是选择“LA (L)
”按钮,会移动到该贴片头前端(元件已被吸取时则在元件下面)的高
度。
7) 图像显示
显示所选贴片头的激光传感器的图像数据。
请将贴片头或吸嘴移动到比激光面更上方的位置后再进行。
在选中控制项目“图像显示”时,选择“执行(E)”按钮或按下“F3”键控制。
请确认激光水平值分布均匀。
若有急剧下降处,或数值极低的情况,可能是激光脏污,请清扫激光面否则元件端面遇到
激光水平值下降位置时会导致定心不稳、激光识别错误。
7-4-1-3-6 图像显示例
激光水平值:受光部接收从发光部发出的光的明亮度用数值 0()255()表示。因此,有
脏污等时水平值会下降。
激光水平值
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