KE-1070使用说明书 - 第474页
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高 度与原来的值不同时，显示如下询问。 图 4.5.4.2.3- 6 询问是否更新 激光高度 图 4.5.4.2.3- 7 询问是否更新 芯片站立判定 高度 ●是：用测量的 新数据覆盖原来的设 置值。 ●否：忽略新测 量值，使用原来的设 定值。 4- 180
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
② 正在进行单独测量的画面
在单独测量过程中，显示如下画面。显示正在进行单独测量的元件的内容及吸取位置，
并依次显示进行中的处理内容。
图 4.5.4.2.3-3 正在进行单独测量
要强行结束测量时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4.5.4.2.3-4 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是放
回、或是废弃。
图 4.5.4.2.3-5 确认是否放回元件
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4.5.4.2.3-6 询问是否更新激光高度
图 4.5.4.2.3-7 询问是否更新芯片站立判定高度
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
③ 单独测量结果
单独测量结束后，显示如下的结果画面。
图 4.5.4.2.3-8 单独测量结果
(1) 检测完元件
显示元件内容及吸取位置。
(2) 检测结果
显示测量结果的值。( )内显示原来的元件数据值。
未进行测量的项目显示***。
(3) 确定(F8键
)
使测量结果生效，将结果值储存到元件数据中。然后返回原来的单独测量条件的设置画
面。
(4) 取消(ESC键)
使测量结果无效，然后返回原来的单独测量条件的设置画面。
(5) 再测量(F10键)
再次以相同的条件进行测量。
(6) 变幻线
从激光单元取得测量(SWEEP)数据，以图表（变幻线）显示元件的轮廓。
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