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Test Research, Inc. 4.1.3 系統設定 解析度：顯示光學系統像素代表之距離。 【掃描設定】 最大速度：掃板時鏡頭的移動速度。 ( 系統內訂，使用者不可修改 ) 掃描模式：掃描模式因應使用者不同需求， 分為速度模式、正常模式、彩色 模式。 a. 速度：使用最高速度掃板，適用於大量 輸出型生產線。 b. 正常：使用正常速度掃板，利用掃圖時 間取得更多受測物訊息以增加準 確度，適用於高精度無時間壓力 型產品。 c. 彩色…
Test Research, Inc.
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主程式選單介紹
4.1
檔案
檔案選單包含開啟檔案、存檔、系統設定、還元預設組態、離開 7007i，共五項功能
選單。功能選單如下圖所示：
4.1.1
開啟檔案
點選開啟檔案功能可開啟格式為 xml 與 xmlx 的兩種檔案。其中預設可開啟格式
為.xml 格式。如需開啟.xmlx 格式，如下圖所示，可至視窗右下方切換將檔案類型。
4.1.2
存檔
存檔功能，選擇當前檔案名稱則可覆蓋現有檔案。若不想覆蓋當前檔案，使用者可另
外命名存檔。目前選擇檔案類型預設為 xml 檔，另可選擇 xmlx(新舊介面共用格式)。
儲存為 xmlx 格式所需儲存空間較大。
可切換檔案類型
可切換檔案類型
TR7007 Series User Guide – Software 55
Test Research, Inc.
4.1.3
系統設定
解析度：顯示光學系統像素代表之距離。
【掃描設定】
最大速度：掃板時鏡頭的移動速度。
(系統內訂，使用者不可修改)
掃描模式：掃描模式因應使用者不同需求，
分為速度模式、正常模式、彩色
模式。
a.速度：使用最高速度掃板，適用於大量
輸出型生產線。
b.正常：使用正常速度掃板，利用掃圖時
間取得更多受測物訊息以增加準
確度，適用於高精度無時間壓力
型產品。
c.彩色：使用彩色燈盤掃圖，利用軟體能
力呈獻受測板真實顏色，進而使
用色彩資訊幫助使用者分析受測
板。
變形模式：變形模式為當受測板發生變形現象時，
利用測得實際量測變形量提供的板彎
追蹤功能。
a.不追蹤：不執行板彎補償。
b.追蹤：執行板彎補償。
預先搜尋模式：啟動預先搜尋光學對位點。以特殊環光克服特殊光學對位點所產生的
問題.
a.無：不啟動預先搜尋光學對位點功能。
b.一個：預先搜尋掃描軟體內定第一光學對位點。
c. 全部：預先搜尋所有光學對位點。
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優化路徑： 勾選後表示開啟優惠路徑功能。開啟優化路徑後，掃描軌跡如下方圖示
中紅色箭頭所示。機台掃描時跳過無檢測框處，節省掃圖時間。
掃描 X 偏移：掃圖起始點 X 方向偏移距離。正值向右、負值向左偏移。
掃描 Y 偏移：掃圖起始點 Y 方向偏移距離。正值向上、負值向下偏移。下圖為掃描
X 偏移與掃描 Y 偏移的如式與範例說明。
開啟優化路徑功
能後，無檢測框
處不掃圖。
輸入
X=-N, Y=M
後新
掃板向左偏移 N
mm、向上偏移 M mm
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