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Test Research, Inc. 優化路徑: 勾選後表示開啟優惠路徑功能。開啟優化路徑後,掃描軌跡如下方圖示 中紅色箭頭所示。機台掃描時跳過無檢測框處,節省掃圖時間。 掃描 X 偏移:掃圖起始點 X 方向偏移距離。正值向右、負值向左偏移。 掃描 Y 偏移:掃圖起始點 Y 方向偏移距離。正值向上、負值向下偏移。下圖為掃描 X 偏移與掃描 Y 偏移的 如式與範例說明。 開啟優化路徑功 能後,無檢測框 處不掃圖。 輸入 X= - N, …

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Test Research, Inc.
4.1.3
系統設定
解析度:顯示光學系統像素代表之距離。
【掃描設定】
最大速度:掃板時鏡頭的移動速度。
(系統內訂,使用者不可修改)
掃描模式:掃描模式因應使用者不同需求,
分為速度模式、正常模式、彩色
模式。
a.速度:使用最高速度掃板,適用於大量
輸出型生產線。
b.正常:使用正常速度掃板,利用掃圖時
間取得更多受測物訊息以增加準
確度,適用於高精度無時間壓力
型產品。
c.彩色:使用彩色燈盤掃圖,利用軟體能
力呈獻受測板真實顏色,進而使
用色彩資訊幫助使用者分析受測
板。
變形模式:變形模式為當受測板發生變形現象時,
利用測得實際量測變形量提供的板彎
追蹤功能。
a.不追蹤:不執行板彎補償。
b.追蹤:執行板彎補償。
預先搜尋模式:啟動預先搜尋光學對位點。以特殊環光克服特殊光學對位點所產生的
問題.
a.無:不啟動預先搜尋光學對位點功能。
b.一個:預先搜尋掃描軟體內定第一光學對位點。
c. 全部:預先搜尋所有光學對位點。
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Test Research, Inc.
優化路徑: 勾選後表示開啟優惠路徑功能。開啟優化路徑後,掃描軌跡如下方圖示
中紅色箭頭所示。機台掃描時跳過無檢測框處,節省掃圖時間。
掃描 X 偏移:掃圖起始點 X 方向偏移距離。正值向右、負值向左偏移。
掃描 Y 偏移:掃圖起始點 Y 方向偏移距離。正值向上、負值向下偏移。下圖為掃描
X 偏移與掃描 Y 偏移的如式與範例說明。
開啟優化路徑功
能後,無檢測框
處不掃圖。
輸入
X=-N, Y=M
後新
掃板向左偏移 N
mm、向上偏移 M mm
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<操作範例>
X 偏移 0mm Y 偏移 0mm 改為 X 偏移 -8mm Y 偏移 12mm。掃描啟始點的 X
標向左偏移 5mmY 座標向上偏移 12mm。下面示意圖可看出,掃板範圍從原本紅框
位置,移動式藍框位置。
掃描寬度:設定掃描範圍的寬度距離。掃描範圍的寬度與高度資訊由於.spi 檔匯入時
即自動帶入。此數值於 Gerber Tool 製作.spi 檔時以包含於.spi 檔中。掃描
寬度與掃描高度的修改結果可參考以下面操作範例。
掃描高度:設定掃描範圍的高度距離。修改結果可參考以下操作範例。
<操作範例>
掃描寬度 257mm 與掃描高度 150mm 改為掃描寬度 274mm 與掃描高度 170mm。掃版
距離。下圖示意圖表示原本面積為藍色框選大小,修改後面積往右上方擴展。
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