00191171-01 - 第10页
Offset aufnahme system für SIPLAC E 80 S1 5 / S20 / F 3 / F4 Betrieb sanleitung Ausgabe 01/98 Seite 10 v on 47 Hinweis Reihenfolge und Seiten der Glasbauelemente nicht verwechseln. Ansonsten wird die Auswer tung verfälsc…
Betriebsanleitung Offsetaufnahmesystem für SIPLACE 80 S15 / S20 / F3 / F4
Ausgabe 01/98
Seite 9 von 47
2.2 Bestücken der Glasbauelemente
•
Laden Sie das Ihrer Maschine entsprechende Bestückprogramm. Kopieren Sie dazu die GF-, BE-,
PM- und LA-Dateien von der mitgelieferten Diskette in die entsprechenden Verzeichnisse auf der
Festplatte des Linienrechners.
•
Definieren Sie die Rüstung für die gewünschte Station. Wählen Sie Förderer Fd
∼
LIN_30. Setzen
Sie das Bauelement Glas16_16 für den Revolverkopf (alle Maschinen) bzw. Glas32_32 für den IC-
Kopf (nur F-Maschinen).
•
Wählen Sie im Menü DIENST den Punkt “Verpackungsbox” und geben Sie dort eine Vibrationszeit
von 3000 ms ein.
•
Speichern Sie die Daten.
•
Ordnen Sie dem gewünschten Bestückkopf das entsprechende Bestückprogramm zu, z.B. 16
Å
Revolverkopf, 36
Å
IC-Kopf.
•
Geben Sie den Auftrag vor und schicken Sie die Daten für den gewünschten Kopf an die ge-
wünschte Station.
•
Schieben Sie die Glasplatte im Eingabetransport über die Lichtschranke. Die Bestückung beginnt.
•
Wenn mehrere Glasbauelemente abgeworfen werden, sollten Sie die Bestückung wiederholen.
Idealerweise wird mit allen 12 Segmenten bestückt, eine Auswertung ist jedoch auch noch mit
max. 4 abgeworfenen Bauelementen möglich.
•
Für den IC-Kopf wird nur ein Bauelement (13) bestückt. Es ist sinnvoll diese Bestückung mehrfach
nacheinander durchzuführen und auszuwerten. Zur Offset-Korrektur wird dann der Gesamtmittel-
wert aller Bestückungen verwendet.
2.3 Vermessen des Offsets
•
Nehmen Sie die Glasplatte aus der Maschine und decken Sie sie mit dem Kunststoffdeckel ab.
•
Wenden Sie die Glasplatte (Kunststoffdeckel nach unten) und legen Sie sie unter das Mikroskop .
•
Beginnen Sie mit der Vermessung bei Glasbauelement Nr. 1, Seite 1. Suchen Sie dazu auf jeder
der numerierten Seiten (1..4) des Glasbauelements diejenige Pinstruktur, die sich mit einem Teil-
strich der Nonius-Skala der Glasplatte am Besten deckt. Das Prinzip ist wie bei einem Meßschie-
ber. Im Beispiel auf der nächsten Seite (Abbildung 2.3-1) betragen die Meßwerte für Seite 1 +20
µm, für Seite 2 -80 µm, für Seite 3 +20 µm und für Seite 4 -70 µm.
• Wiederholen Sie den Vorgang für alle anderen Glasbauelemente und tragen Sie die festgestellten
Meßwerte an den entsprechenden Platzhaltern ins Auswerteformular ein.
• Bei IC-Kopf: Führen Sie mehrere Messungen durch (Bestückung mehrfach durchführen).
Offsetaufnahmesystem für SIPLACE 80 S15 / S20 / F3 / F4 Betriebsanleitung
Ausgabe 01/98
Seite 10 von 47
Hinweis
Reihenfolge und Seiten der Glasbauelemente nicht verwechseln. Ansonsten wird die Auswertung
verfälscht!
2.4 Auswertung
•
Öffnen Sie mit MS-Excel die Datei AUSWERTUNG.XLS auf und füllen Sie die “Allgemeinen Anga-
ben” aus. Klicken Sie auf das jeweilige Bauelement und übertragen Sie die Meßwerte der Reihe
nach vom Auswerteformular in die erscheinenden Dialogfelder.
Hinweis
Eine manuelle Auswertung (mathematische Berechnung ohne MS Excel) ist ebenfalls möglich. Ver-
wenden Sie dazu das beiliegende Auswerteformular.
•
Scrollen Sie im Excel-Fenster nach rechts. Die Korrekturwerte werden unter “Mittelwert” angezeigt.
•
Drucken Sie die Excel-Seite mit den Mittelwerten (“Berechnungsblatt”) aus und legen Sie sie für
die Korrektureingaben bereit. Schließen Sie die Excel-Datei, indem Sie auf die Schaltfläche “Alle
Dateien werden geschlossen” klicken.
Betriebsanleitung Offsetaufnahmesystem für SIPLACE 80 S15 / S20 / F3 / F4
Ausgabe 01/98
Seite 11 von 47