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Instrucciones de servicio SIPLACE S-27 HM 7 Ampliaciones de la est ación Versión de software SR.503.xx Edición 07/2003 ES 7.5 Centrado de substrato de cerámica 185 – Iluminac ión d e luz obl icua, azul Con e sta ilumin a…
7 Ampliaciones de la estación Instrucciones de servicio SIPLACE S-27 HM
7.5 Centrado de substrato de cerámica Versión de software SR.503.xxEdición 07/2003 ES
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7.5.5 Centrado óptico con la cámara multicolor-TCI
7.5.5.1 Generalidades
En el lugar de la cámara subportal - TCI se puede instalar de forma opcional una cámara multi-
color - TCI. Con la cámara multicolor - TCI se dispone de cuatro tipos de iluminación. Con ello
puede elevarse considerablemente el reconocimiento de marca y por consiguiente la precisión
de centrado.
7
Fig. 7.5 - 3 Cámara multicolor - TCI
7.5.5.2 Tipos de iluminación de la cámara multicolor -TCI
En la cámara multicolor -TCI pueden seleccionarse los siguientes tipos de iluminación:
– Iluminación estándar
Con esta mezcla de iluminación blanca e infrarroja puede reconocerse una amplia gama de
marcas. Por medio de la variación de la iluminación puede mejorarse el contraste de la imagen
y con ello optimizarse el centrado de marcas diferentes.
– Iluminación blanca
Este tipo de iluminación se utiliza para tarjetas de circuitos impresos estándar con marcas es-
tañadas.
Instrucciones de servicio SIPLACE S-27 HM 7 Ampliaciones de la estación
Versión de software SR.503.xx Edición 07/2003 ES 7.5 Centrado de substrato de cerámica
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– Iluminación de luz oblicua, azul
Con esta iluminación se puede alcanzar en la mayoría de los casos un evidente mejoramiento
de contraste para marcas de ajuste brillantes sobre un material base claro como cerámica o
CEM (composite electrochemical materials, materiales compuestos separados electrolítica-
mente). Igualmente las marcas de ajuste cubiertas por medio de reserva de soldadura pueden
reconocerse mejor sobre un fondo claro.
– Iluminación infrarroja
La utilización de este tipo de iluminación es conveniente de forma especial para marcas cu-
biertas con reserva de soldadura o para marcas de material Flex. Para marcas de plata/platino
sobre cerámica se puede alcanzar un eventual mejoramiento de reconocimiento, lo cual pre-
viamente se debe determinar por medio de un centrado / una colocación de prueba.
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7.6 Calibrado fino Versión de software SR.503.xxEdición 07/2003 ES
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7.6 Calibrado fino
7.6.1 Vista general
En el calibrado fino se mide la desviación de colocación de la estación y se determinan a partir
de ello los valores de corrección. El programa de medición "Calibrado fino" está integrado en el
programa SITEST. Una descripción detallada del proceso de medición la encuentra en las ins-
trucciones de "Calibrado fino" (N° de artículo 00191655-01)
CUIDADO
El acceso al programa SITEST está protegido con una clave. Solamente puede llamarse y ope-
rarse por parte de los técnicos de la empresa SIEMENSDEMATIC AG o por personas con la ca-
lificación adecuada. 7
7.6.2 Condiciones del sistema
Para la utilización del calibrado fino el sistema debe cumplir las siguientes condiciones:
Tipo de estación de colocación S-27 HM
Software de la computadora de la estación a partir de la versión 503.xx
SITEST a partir de la versión 503.xx
INDICACION: 7
El calibrado fino puede ejecutarse solamente con el cabezal Collect&Place de 12 segmentos. 7
7.6.3 Medios auxiliares y de medición
El volumen estándar de suministro incluye:
– Placa de medición (placa de vidrio en marco metálico)
– Película transparente adhesiva por ambas caras
– Unidad de iluminación
– Componentes CERAM en el transportador para el cabezal Collect&Place de 12 segmentos