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7 Ampliaciones de la estación Instrucciones de serv icio SIPLACE S-27 H M 7.6 Calibrado fino Versión de software SR.503.xx Edición 07/2003 ES 186 7.6 Calibrado fino 7.6.1 V ist a general En el cal ibrado fino s e mide la…
Instrucciones de servicio SIPLACE S-27 HM 7 Ampliaciones de la estación
Versión de software SR.503.xx Edición 07/2003 ES 7.5 Centrado de substrato de cerámica
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– Iluminación de luz oblicua, azul
Con esta iluminación se puede alcanzar en la mayoría de los casos un evidente mejoramiento
de contraste para marcas de ajuste brillantes sobre un material base claro como cerámica o
CEM (composite electrochemical materials, materiales compuestos separados electrolítica-
mente). Igualmente las marcas de ajuste cubiertas por medio de reserva de soldadura pueden
reconocerse mejor sobre un fondo claro.
– Iluminación infrarroja
La utilización de este tipo de iluminación es conveniente de forma especial para marcas cu-
biertas con reserva de soldadura o para marcas de material Flex. Para marcas de plata/platino
sobre cerámica se puede alcanzar un eventual mejoramiento de reconocimiento, lo cual pre-
viamente se debe determinar por medio de un centrado / una colocación de prueba.
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7.6 Calibrado fino Versión de software SR.503.xxEdición 07/2003 ES
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7.6 Calibrado fino
7.6.1 Vista general
En el calibrado fino se mide la desviación de colocación de la estación y se determinan a partir
de ello los valores de corrección. El programa de medición "Calibrado fino" está integrado en el
programa SITEST. Una descripción detallada del proceso de medición la encuentra en las ins-
trucciones de "Calibrado fino" (N° de artículo 00191655-01)
CUIDADO
El acceso al programa SITEST está protegido con una clave. Solamente puede llamarse y ope-
rarse por parte de los técnicos de la empresa SIEMENSDEMATIC AG o por personas con la ca-
lificación adecuada. 7
7.6.2 Condiciones del sistema
Para la utilización del calibrado fino el sistema debe cumplir las siguientes condiciones:
Tipo de estación de colocación S-27 HM
Software de la computadora de la estación a partir de la versión 503.xx
SITEST a partir de la versión 503.xx
INDICACION: 7
El calibrado fino puede ejecutarse solamente con el cabezal Collect&Place de 12 segmentos. 7
7.6.3 Medios auxiliares y de medición
El volumen estándar de suministro incluye:
– Placa de medición (placa de vidrio en marco metálico)
– Película transparente adhesiva por ambas caras
– Unidad de iluminación
– Componentes CERAM en el transportador para el cabezal Collect&Place de 12 segmentos
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Versión de software SR.503.xx Edición 07/2003 ES 7.6 Calibrado fino
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7.6.4 Descripción de funcionamiento
Un gran número de componentes CERAM se colocan sobre una placa de vidrio provista de una
película adhesiva. Los componentes CERAM están provistos de marcas de referencia en las
esquinas de la cara superior. En la proximidad inmediata a estas marcas de componentes se
encuentran sobre la placa de vidrio igualmente marcas de referencia.
Fig. 7.6 - 1 Principio del calibrado fino
Inmediatamente después de la colocación la cámara de tarjetas de circuitos impresos graba cua-
tro secuencias de imagen de las correspondientes marcas de referencia de la tarjeta de circuitos
impresos y componente. Después, se determina con la ayuda del programa de evaluación la des-
viación de colocación en dirección X/Y y la desviación angular. De los valores de desviación se
calculan los valores de corrección y éstos se registran en el fichero de máquina FK_off.ma de la
estación de colocación.
7.6.5 Modo de medición
Para la medición puede elegir entre los siguientes modos:
– Medir los valores para un solo cabezal de colocación
– Medir los valores para todos los cabezales de colocación de una zona de procesamiento.
– Medir los valores para toda la estación de colocación.
La medición se puede repetir un número cualquiera de veces con o sin la nueva colocación de
componentes CERAM.
Componente de vidrio Placa de vidrio
Campo visual de la cámara de tarjetas de
circuitos impresos