TR7500-AOI检测原理说明 - 第12页
第 12 页 共 14 页 2006-09-15 5. Pin W indow 此檢測框是用來檢查元件的偏移 、 錫多 、 錫少。 利用灰階值 (0-255) 來設定門檻 值及所佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習 (T rain) 檢測框中亮的區域 大小，再根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。 以上例來說 Pin 的 PA S S 範圍如下： )% 135 100 ( )% 60 100 ( + < < − PA…
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Defect Pixel Count –系統會將超出門檻值的畫素(pixel)標示出來，並將其中相鄰
的畫素視為同一群組。在左右的空格內各填入認為是缺點群組的最小值及最大
值範圍。若填入數值為 50< Defect Pixel Count<500 表示若抓出的缺點群組大小
為 50~500 間，則會認為此群組為缺點。
Principal axis aspect ratio> – 若抓出群組的長寬比大於所輸入的值的話才視為
缺點。本功能可用在抓翹腳時影像出現白邊的長寬比。若輸入 0 表示此項目不
檢測。（此項目可做外型篩選）
常用應用範圍：
1. IC、Connector 空焊
如下圖，為 Rear 攝影機觀察結果，並使用來自 Rear 的光源，Connector 空焊導致
錫型改變，反射出一長條狀的亮帶，如下右圖，1 號 IC Pin 是空焊，2 為正常 IC Pin，
當正常吃錫情況，IC 腳前方的 PAD 為平面，無燈光反射回 Angle Camera，故正常 IC
腳的 PAD 部分為暗帶。若 IC Pin 空焊時，由於錫膏在爐後冷卻後會在整個 PAD 上形
成一半圓柱狀的曲面，此曲面會反射來自 Angle 的燈光到同一方向的 Angle 攝影機，
故呈現一白色亮條，此時利用 Extra Blob 可檢出不良。
此類亮條多為扁平狀故可以利用 Principal axis aspect ratio 控制細長比，來過濾掉
較為方正的班點。
2. 金手指檢驗
金手指的刮傷與污點亦可用 Extra Blob 檢出。
1
2
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5. Pin Window
此檢測框是用來檢查元件的偏移、錫多、錫少。利用灰階值(0-255)來設定門檻
值及所佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習(Train)檢測框中亮的區域
大小，再根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。
以上例來說 Pin 的 PASS 範圍如下：
)%135100()%60100(
+
<
<
− PASS
B/W Threshold – 判定黑與白分野的門檻值
High Ratio – 檢測框中白色區域面積與學習而得的白色面積的最大比例容許值
Low Ratio – 檢測框中白色區域面積與學習而得的白色面積的最小比例容許值
在應用方面：
1. Angle Camera 測試 IC 腳爬錫：
如上圖，Pin 可以測試 IC 腳爬錫狀況以檢出 IC 空焊蹺腳，但此一功能已漸漸由
Vo i d 來取代。
2. 特殊形狀的白色區域檢測：
如需要檢測特殊形狀區域的白色 Pixel 數，由 於 Pin 會在 Train 的時候記下白色的
Pixel 數量，可測試此類區域的白色畫素。
235%(OS:135)
40%(LS:-60)
100%
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C、其他類型檢測
1. ROI
用來檢測表面刮傷，以及金手指沾錫。在 Train 步驟時才可針對所需要的部分增加
[ROI]檢測框。
檢測參數設定畫面
教導區 – 設定[ROI]框在學習時的參數
敏感度 – 設定 70 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 30(100-70)以上
的話，就認定這兩個畫素是已存在的邊界。
遮罩區 – 設定為 1 的話表示除了上述視為邊界的相鄰兩畫素外，與這兩
畫素相鄰 1 個畫素的點都設定為不檢測。
檢測參數區 – 設定[ROI]框在檢測時的參數，檢測時僅針對位在[ROI]框內但教
導後沒有被遮蔽的區域做檢測。
檢測敏感度 – 設定 60 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 40(100-60)
以上的話，就認定這兩個畫素是新增的邊界或刮痕。
容忍度 – 設定為 5 表示若檢測後新增的邊界中有任何一群大於 5 個畫素
的話，會被認定為有瑕疵。
[教導敏感度]設定數值需大於[檢測敏感度]，表示教導的敏感度要較敏感，否
則會產生太多誤判。