TR7500-AOI检测原理说明 - 第7页

第 7 页 共 14 页 2006-09-15 B 、灰階像數統計： 二值化處理 在此之前先介紹灰階的二值化處理。 灰階從最暗的黑色 （第 0 階） 到最亮的白色 （第 255 階） 共分為 256 階個層次。 如 下圖： 今有影像的灰階畫素如下圖分佈： 首先指定一灰階門檻值 （ Threshold ） ，如 140 ， 在此原則下， 大於 140 灰階的畫素都視為白色，小於 140 為黑色。二值化後的情形如下： 二值化後，灰階僅分為黑…

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◎ 帶有和 Lead Void Link 的 Lead，在 Relocate 成功時會連同 Lead Void 一起 Train.
◎ 某些種類的 IC 腳較短，往往在前端發亮帶在爐後有時發生變黑的情形，此時會造
成 Lead 分數不足而連帶 Lead Void 維持在 Untrain 的狀態，此類 IC Lead 需要加入
代料影像。
◎ 有時文字尺寸過小的影像，使用 Missing 不易解析出輪廓特徵，此時可試以 Lead
代替 Missing 檢查文字。
3. 關於搜尋範圍 Search Range
Missing、Lead、Alignment、Warp 這一類具有定位能力的檢測框可以設定搜尋範圍，
在搜尋範圍內的影像才可以被比對與尋找，由於 Search Range 設定的情況不同，檢測結
果也會有些差異。（虛線部分為搜尋範圍）
1. 以 Missing 與 Lead 來說，元件偏離了容許範圍，在搜尋範圍內的被找到會判偏移，
在搜尋範圍外由於並沒有找到所以判缺件。
缺件 加大搜尋範圍後判為偏移
2. 搜尋範圍過小時會造成檢測框搜尋上的錯誤，造成誤判，請重新設定適當的大小。
搜尋範圍過小
3. 在 Angle Camera 由於板彎存在時容易造成待測影像偏離搜尋範圍，故需要把某些
方向的搜尋範圍加大，原則如下：
※ 1、2 號 Camera：
Y 方向板彎偏移大→
Y 方向搜尋範圍、Y 方向偏移容許值放大
※ 3、4 號 Camera：
X 方向板彎偏移大→
X 方向搜尋範圍、X 方向偏移容許值放大
4. 搜尋範圍可先在 AT PG 的 Tune>Library
中設定，亦可在 Train Dialog 中設定。
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B、灰階像數統計：
二值化處理
在此之前先介紹灰階的二值化處理。
灰階從最暗的黑色（第 0 階）到最亮的白色（第 255 階）共分為 256 階個層次。如
下圖：
今有影像的灰階畫素如下圖分佈：
首先指定一灰階門檻值（Threshold），如 140 ，在此原則下，
大於 140 灰階的畫素都視為白色，小於 140 為黑色。二值化後的情形如下：
二值化後，灰階僅分為黑與白兩類，以下檢測框皆使用此二值化方式判別。
1. Void
Vo i d 主要在計算檢測框內的灰階分佈比例。
上圖灰階點數共 32 畫素（8 x 4），以白色為分子，白點共 9 點，將白色點數除以全
部點數可以得到 Vo i d 的 Bright Ratio。 9 / 32 = 28%
內總畫素
白色畫素
oid
oBrightRati
V
=
Vo i d 預設值為 Check Bright（測亮法），若改為 Check Dark（測暗法），會將測試的
相反結果輸出（例如：Pass → Fail），不論是測亮還是測暗都是以白色畫素量為分子。
255
Gray Level
0
140
Void 框
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Vo i d 的應用範圍很廣，常用情況如下：
1. 錫點測試 —測亮法（Top Camera）
正常
不良
如圖，正常 CHIP 類元件由 TOP 攝影機觀察，爬錫面會呈現陰影，當元件空焊或少
錫時會由於光線反射而變成亮帶，此時可以 Vo i d 測亮來檢測此問題。
2. 錫點測試 —測暗法（Angle Camera）
在 Angle 的 Camera 測試爬錫面時，打同方向的燈光時，正常爬錫面通常會由於反
射而發亮，而當 IC Pin 空焊的時候，由於爬錫面消失而變暗，此類瑕疵可用 Vo i d 測暗
來檢測。
3. 元件偏移探測
（黑色元件，測亮法） （白色元件，測暗法）
如上左圖，黑色元件由於本體全部為黑色，沒有明顯的輪廓特徵與灰階差異特徵，
無法使用 Missing 或 Lead 檢測框來測試，此時可用 Vo i d 放在四個 PAD 上，當元件缺件
或偏移時，Vo i d 會探測出灰階比例變亮，檢出此類瑕疵。又，如右圖，當元件為白色時
亦可用此類方法，需注意此時改用測暗法，並將 Vo i d 放置於底部為 PCB 板區，當元件
缺件或偏移，Vo i d 會落在灰階較暗的 PCB 板上。
4. 電阻反白測試
正常電阻元件　 　 電阻反白
電阻反白亦可使用 Vo i d 測亮法檢出。