1_赫立AOI中文客户培训教材 - 第27页

算法:符号匹配( OCV ) 在 检测 窗口指定的区域内,自 动 搜索与 预 先采 样 的字符 / 图 形最 为 相似的 图 像, 并 计 算出相似程度百分比。 算法 举 例: 电 阻 错 件 差异: 丝 印不一 样 步 骤 1. 选择 算法 :符号匹配( O CV ) 点 击 更新模板 ,截下符合 元件特 性的 丝 印符 号,确定 (如果 该 元 件没有极性 ,将双向搜索 打 钩 ), 可更新一 样 特性的多个模 板 2. 设 置合格…

100%1 / 40
警偏移64.35%<80%
合格
算法:亮度抽取(%))
检测窗口指定的区域内,取符合指定的亮度合格范的像素个数占
窗口像素数的百分比数据。
算法例:阻偏移
思考:如果阻上下偏移了会
有什么化?阻的极是不
是会上下移,此会出
置上亮度化,当我找到
种差异,我就可以用亮度抽
取(%)来区分种亮度
偏移
极亮度0.565
本体亮度0.069
检测窗口放在焊盘中心,
当元件没有上下偏移的候,我
希望看到个窗口内,黑色的
亮度占有比例越高明没有
极侵入,即没有偏移,故抽取
元件本体黑色亮度部分区分
出和极亮度的差异,拉大检测
窗口,我们发现抽中的本体同
样为白色效果,极部分黑色
置合格范
检测窗口内,抽中的黑色的亮度
像素个数占的比例越高
阻不偏移或微偏移,故我
置范如下(往右拉)
偏移的化???
阻本体亮度
算法:符号匹配(OCV
检测窗口指定的区域内,自搜索与先采的字符/形最相似的像,
算出相似程度百分比。
算法例:
差异: 印不一
1.选择算法:符号匹配(OCV
更新模板,截下符合元件特
性的印符号,确定(如果
件没有极性,将双向搜索),
可更新一特性的多个模
2.置合格,即与更新的模
板的相似度百分比大小,越相似
越好
1
2
OK
像素点亮度值
(夸大假设)
线1
线2
线3
线4
3
1
3
0
2
2
1
0
4
5
0
0
9
4
1
3
3
6
6
6
长边线亮度极差:
(计算长边每条线上最亮
最暗值的差值
7
5
6
3
算法计算结果
亮度投射最小跨度算法最
计算出的是差值最小的那
3
拟图检测窗口
偏移 桥连
正常 偏一点
偏移
算法:亮度投射最小跨度
检测窗口指定的区域内,行窗口度方向上亮度投射后的
亮度极差运算,并求取极差后的最小数。可辨窗口度方向
上有无极亮或极暗物体横跨窗口的度方向。
如果能深刻理解此算法的定,以上不良测试变得比较简单
一定要理解透个算法的意思,
可以用在很多不良的测试