1_赫立AOI中文客户培训教材 - 第37页

找到一种光源如上 图 所示,当出 现 距离的差 异 时 ,使用算法亮度梯度双 边 距离( % ),点 击 检测 图标 , 范 围 卡住分布区域,当元件缺件的 时 候,百分比会 发 生 变 化, 设 置下限如下 图 如果缺件, 计 算出的距离 百分比是 25.08%< 32.1%, 报 警缺 件 算法:亮度梯度双 边 距离( % ) 在“亮度梯度双 边 定位” 获 取的两条 边 界的基 础 上, 计 算出两条 边 界之 间 的距离占…

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阻缺件的差异你找了?
需要你算法的充分理解
找到一种光源如上所示,当出距离
的差异,使用算法亮度梯度双距离(mm),
置范,当元件缺件的候,距离会短,
置下限如下
如果缺件,两绿线的距离是0.200
less than 0.35, 警:缺
算法:亮度梯度双距离(mm
在“亮度梯度双定位”取的两条界的基上,算出两条界之的距离
和双定位的算法有点似,个算法是在双定位的基算出两条定位线的距
置上下限来测试不良缺陷
选择长方向,短方向的效果
选择两种追踪模式的效果
找到一种光源如上所示,当出距离的差
,使用算法亮度梯度双距离(%),点
检测图标,卡住分布区域,当元件缺件的
候,百分比会化,置下限如下
如果缺件,算出的距离百分比是
25.08%<32.1%, 警缺
算法:亮度梯度双距离(%
在“亮度梯度双定位”取的两条界的基上,算出两条界之的距离占检测
窗口自身度的百分比
阻缺件的差异你找了?
需要你算法的充分理解
个人体会
赫立AOI检测序的制作始终围绕一个中心和三个要点展开,一个中心指的是“差异”,
需要AOI 工程需要迅速思考出元件不良的差异(思考的角度不一算法就不
三个要点指的“定准”“算”和“光源好。只要我搞明白AOI序制作的
问题就迎刃而解了。
1. 定位算法要准。定位方式的好坏决定了窗口的位置准确性,位置找不到了 误报就多
了,做再多检测法都是无用功。 件的性取决于赫立多种的定位可
选择,灵活方便,括坐定位,片式元件定位,MARK定位,模板匹配(RGB,亮度梯度
单边定位,亮度梯度双定位等等各有所光源的选择很重要
2.如何选择合适的检测算法?
当我到了差异,当我的定位准确了,你就可以安心的用想要合理的算法在检测
置参数和所有元件的检测算法都是基于差异得出,我的差异无法两种:
色差异和亮度差异。简单,元件未缺件与缺件的状态对比,的状
的状态对比,极的状与未极反的状态对,偏位与未偏
态进等。只要能找到明差异相检测算法就得出。
3. 光源如何选择
要知道如何选择源首先就要了解选择源的目的。选择光源的目的也是了找出明
差异。例子贴电偏位,我的是元件和焊盘选择光源使二者
开,这样亮度抽取才好抽。