镭晨AIS63X Series-SPI产品介绍_210223 - 第12页

测量范围单个像素的⾼度值通过测量每⼀个像素范围内的⾼度值，再乘以每个像素的表⾯积，对测量范围内的所有⾼度值进⾏累计加法，更准确地计算体积相对零平⾯定义原理 AIS63XSeries - SPI｜核⼼原理

采⽤图⽚直投的光闸成像⽅式(PSLM)，实现了对条纹结构光的软件调制及控制

直接形成⿊⽩间隔的条纹结构光，通过软件调制及控制。⼤⼤增强了对不同精度

要求的适应⼒。⽆需机械部件，⼤⼤减少了设备的故障⼏率，降低维修成本

AIS63XSeries-SPI｜核⼼原理

测

量

范

围

单

个

像

素

的

⾼

度

值

通过测量每⼀个像素范围内的⾼度值，再乘以每个像素

的表⾯积，对测量范围内的所有⾼度值进⾏累计加法，

更准确地计算体积

相对零平⾯定义原理

AIS63XSeries-SPI｜核⼼原理

通过RGB对锡膏、⽩线、杂物进⾏过滤，有效避免锡膏桥接的伪判情况

RGB有源三⾊、2D照明光源

AIS63XSeries-SPI｜技术优势