ALeaderAOI-Ver 4.0 - 第159页

的 1/3 , 甚至为 1/2 ) ,在此条件 下 ,可放宽气 孔的参数设 置。气孔发生 的情况很多,各 种情况的参数不尽相 同。以下为例: 见上图, ①区域中发生 “气孔” 误报。 确定 “气孔” 误报后, 查看②区域 中 “气孔” 的返回值, 上图中为 68 , 落在判定区间 ( 0 , 36 ) 之外。 对于此现象, 查看待测图 , 发现待测图的引脚 上存 在暗黑区域 , 则需要对 “气 孔”的引脚上 的暗黑区 域进行处理 ,该类…

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见上图,①区域中发生“包锡”误报。确定“包锡”误报后,查看②区域中“包锡”的返回值,上图中为 165
落在判定区间0 160之外。对于此现象,查看待测图,发现待测图的内部区域存在高亮的区域,“包
锡”的判定参数进行调节,调节的规则如下:
1 “包锡”的参数不进行调节。其色彩通道选择“红”“绿”,灰度化方式则选择“平均”,判定参数
认范围为(0 160。一般在调试过程中,不对包锡参数进行调节。在插件焊点特别暗情况下,则降低
“包锡”的判定上限,可以降低至 150,或者 140
2 调节判定参数。见上图,由于待测图中存在着高亮区域,使得抽取焊锡成分时,“包锡”的返回值偏小
需对判定参数进行调节。上述误报中,通常采用两种调节方式:方式 1 为调节“包锡”的有效区域,
有效区域从 60 增大致 65,其返回值则为 156,符合判定范围(0 160,在增大有效区域时,有效
域最大不超过 70;方式 2 是调节判定参数的上限,增大致 165,则返回值 165 符合判定区域(0165
在增大判定参数上限时,不能无限制增大,一般情况下,可增大至 170,个别高亮元件可根据实际的
摄效果而定。注意,如果该类插件焊点的亮度低,可选择降低判定参数的上限,不是默认的 160,这
避免“包锡”的漏测。
5 气孔检测
气孔检测,是指 DIP 件是否发生气孔的现象,主要是通过分析 DIP 件气孔区域的亮度来分析是否发生气
孔。其注册窗体如下:
上图为 DIP 件的“气孔”注册窗体图,说明如下:
a) ROI 区域:ROI 区域焊盘的内椭圆区域,如①中的绿色椭圆区域。
b) 检测算法区域:【检测算法】为“CREST,子检测算法为“气孔”算,其他参数见②区域。
c) 判定区域:默认判定范围为(0 40
d) 气孔参数区域:【有效区域】为 75%;屏蔽比率 0;蓝色上限为 30,绿色上限为 70,蓝色上限为 90
参数说明见<算法详解>CREST”算法。
气孔是指检测插件是否发生孔洞外露的检测项。在调试过程中,“气孔”的误报占绝大部分,气孔调节
的好坏,则直接影响 AOI 的误报数量。气孔的参数设置,也是插件检测中,最难把握的。气孔的参数设置,
往往涉及到车间的工艺要求,甚至是品质要求。如品质要求低,对于大气孔(孔洞外露的面积超过实际孔洞
1/3甚至为 1/2,在此条件,可放宽气孔的参数设置。气孔发生的情况很多,各种情况的参数不尽相
同。以下为例:
见上图,①区域中发生“气孔”误报。确定“气孔”误报后,查看②区域“气孔”的返回值,上图中为 68
落在判定区间0 36之外。对于此现象,查看待测图发现待测图的引脚上存在暗黑区域则需要对“气
孔”的引脚上的暗黑区域进行处理,该类状况下,需要对“气孔”中心区域进行屏蔽,原理是“气孔”的中
心区域存在设置引脚。其操作为将屏蔽比率增大 30,则其返回值变为 13,符合判定区域0 36。气孔
的调节,需要对气孔的产生,以及气孔的检测原理,都需要理解,在理解前提下,可进行对“气孔”误报出
现的各种情况,进行相关的调节。
5.4. 标准注册与调
标准注册与调标准注册与调
标准注册与调
5.4.1. 插件
插件插件
插件
DIP 件的检测,包括焊盘定位、引脚检测、少锡检测、包脚检测和气孔检测等,主要检测引脚、焊锡、包脚
和气孔等方面的问题。其注册窗体如下:
上图为 DIP 的注册窗体,①区域为其所有检测项,说明如下:
元件类型
元件类型元件类型
元件类型
检测项
检测项检测
检测项 说明
说明说明
说明
DIP 少锡
本体框的作用是用于检 DIP 件的好坏。其注册与调试见<波峰焊的基本检测
>中“插件”算法。
5.4.2.
短路
波峰焊检测的短路注册和调与炉后检的短路注与调试一致,请参<前的基本检测>中的
“短路”算法。
5.4.3. 电容
电容电容
电容
电容,是炉后 PCBA 中最常见的元器件,不具备极性。电容的元件标准包括 1 个本体框、2 个少锡框、2
个空焊框、2 缺件框、1 个错件框。其元件注册示意图如下:
上图中红色框为本体框,黄色框为错件框,蓝色框为少锡框(空焊框和缺件框),少锡框与空焊框、缺件
的位置基本一致。其注册窗体如下: