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注意，自定义的 设置在统 计类型中，只有 对应的统计方式 才会被启 用。 应用模式： Cp k 模式，直 接 返回 Cpk 数据； x -R 统计，此 统计方式 需 PCB 数据 25 组随机抽 取相应数量的元 件来进行计算 ； x -R2 统计，此 统计方式 需 PCB 数据 125 组随机抽取相应 数量的元件来进行计算。 数据服务器名称 或 IP ：为保存测试数 据 的计算机名 称或者 IP 地址。 更新周期：为刷 新管控上 下限的…
图中红色框为设置西格玛参数δ的倍率关系，此参数可以手动修改；
图中蓝色框为设置 GR&R 参数，零件公差=元件 USL(上限)-元件 LSL（下限）；
图中绿色框为 Cpk 参数设置，及相关数据参数设置；
USL 代表元件规格上限，LSL 代表元件规格下限，Cpk Spec 为设置的 Cpk 安全值，以上参数可以手动设置。
PCB 数量，可以手动设置，为计算数据的最少 PCB 数量，群组数量为设置以多少块 PCB 板为统计集合。
统计类型：元件编号，以元件在软件中注册的内部唯一编号来计算 Cpk 的结果；
元件位置，以元件位置来确定计算 Cpk 的结果；
元件料号，以元件料号来计算 Cpk 的结果；
元件类型，以元件类型来选择计算 Cpk 的结果；
元件规格，以元件规定的规格来计算 Cpk 的结果。
允许偏移：系统设置偏移，以元件在 SPC 软件中设置的偏移值为限制范围计算；
AOI 允许偏移，以元件在 AOI 软件中设置的偏移值为限制范围计算；
自定义偏移，按照自己的选择对元件进行偏移值的限制设定，如下图；
注意，自定义的设置在统计类型中，只有对应的统计方式才会被启用。
应用模式：Cpk 模式，直接返回 Cpk 数据；
x
-R 统计，此统计方式需 PCB 数据 25 组随机抽取相应数量的元件来进行计算；
x
-R2 统计，此统计方式需 PCB 数据 125 组随机抽取相应数量的元件来进行计算。
数据服务器名称或 IP：为保存测试数据的计算机名称或者 IP 地址。
更新周期：为刷新管控上下限的时间间隔，此设置时间单位为：小时。
2，GR&R 界面说明：
上图为 GR&R 数据结果在 SPC 中的分析显示界面：
①图中蓝框处，为选择显示的偏移量对应的坐标，X/Y/Angle；
②图中红框处，为设置统计数据的零件个数，随机为测试数据中随机抽取对应数量的零件，来计算 GR&R 数据，
并显示在下面的图标区中；手动则是在结果中弹出选择窗口，让操作员选择需要的元件进行图表显示，如下图：
3.Cpk 界面说明
Cpk 界面如下图所示：