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第 二 章、主 程 式 選 單介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 12 7 . 1 2 . 啟 動 檢測 資料收集 ( E n a bl e In s p ec t i o n D a t a C oll e c t i o n ) l 勾選 此 選項 可將 每 一 次 檢測 中 每 顆 元件 的結 果 ， 以文字 檔產生 在 與程式 相同 的 資料 夾中 ， 檔案 以 [ 西 元 年月日 時分 秒 ] 命 名。 7 . 1 3 …
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l
)1(
)(
)(
2
−
−Σ
=
檢測次數
平均值偏移值
標準差Sigma
l
−−
=
Sigma
LSLAverage
Sigma
AverageUSL
MinCpk
3
)(
,
3
)(
l USL 以及 LSL 分別為規格上下限，可在檢測模式啟動時輸入
7.10. 量測工具(Gauge Tool)
7.10.1. 量測 Fiducial 0-1 重複性(50 次)
l 系統重複量測兩對位標記的距離 50 次，並將結果儲存在[C:\AOI]資料夾中，
第一組 50 次的量測結果檔名為[fireport1.txt]，若 再進行多次量測則檔名依序
會存為[fireport2.txt]、[fireport3.txt]…。進行量測前需選擇選擇電路板出板或
不出板來進行量測。
7.11. 重送影像資料至維修站(Resend Image Data for Repair)
l 只有在[參數/使用者模式/連接維修站]打勾時，此按鈕才有作用。按下此按
鈕可以將維修站需要的影像資料(包含*dir.1、*.win、*.img、*.bmp)再傳送一
次到維修站電腦中，路徑為使用者在[參數/使用者模式/電路板/維修站]中所
設定的路徑。
l 傳送成功出現以下訊息，請按[確定]。
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7.12. 啟動檢測資料收集(Enable Inspection Data Collection)
l 勾選此選項可將每一次檢測中每顆元件的結果，以文字檔產生在與程式相同
的資料夾中，檔案以[西元年月日時分秒]命名。
7.13. 元件狀態(Component Status)
l 此功能須入[Train]的畫面中才可以點選。
l 勾選[Pass]、[Fail]及[Untest]後，按下[Refresh]按鈕，系統會自動統計出本片
板子檢測時通過、缺點或是不測的元件數。
元件總數
7.14. 產生實體影像資料(Generate Real Image Data)
l 產生影像資料至 ICT 或 ATE 設備。
7.15. 線上元件資料輸出至SPC統計(Inline Component Data Output to
SPC)
l 將線上元件資料輸出至 SPC 統計。
7.16. 第二專案設定(Second Project Setting)
l 可設定兩個檢測程式以特定間隔輪流檢測。此功能目前尚在建構中。
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l Enable – 將此功能開啟。此功能為一次載入兩個程式，當檢測時符合下方輸
入的條件，系統會在兩程式之間作切換。
l Check Fiducial Mark – 當此程式找不到對位標記時，切換成第二個程式來檢
測。
l Count – 點選後輸入次數，當本程式檢測達指定次數時會切換到下一個程式
來檢測。
7.17. 檢測框操作(Inspection Box Operation)
l 指定檢測框並更改其檢測參數。
n 元件種類(Type List) – 系統自動列出程式中所有的元件類型
n 選擇元件(Select Type) – 選擇需要改變的元件類型。先點選需要改變的
元件類型後，按下 按鈕，可將選擇的類型移動到本欄位中。
n 檢測框屬性(Algorithm) – 選擇需要改變的檢測框類型。
n 鏡頭(Camera) – 選擇需要改變的攝影機鏡頭位置。
n 動作(Action) – 選擇需要改變的動作。
(1) Change Passlevel – 改變比對條件的分數。當選擇此選項時，下方
工具列會亮起，點選 鈕可以切換正負號，正號表示將原始的參
數加上後面輸入的數值，負號表示將原始的參數減掉後面輸入的數