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第 二 章、主 程 式 選 單介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 13 l E n a b l e – 將此功能 開啟 。 此功能為 一 次 載入 兩個 程式 ， 當 檢測 時 符 合 下方 輸 入 的條 件 ，系統 會 在兩 程式 之 間 作 切 換 。 l C h e c k F i d u c i a l M a r k – 當 此 程式找 不 到 對位 標記 時， 切 換 成 第 二 個 程式 來 檢 測 。 l C ou…
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7.12. 啟動檢測資料收集(Enable Inspection Data Collection)
l 勾選此選項可將每一次檢測中每顆元件的結果，以文字檔產生在與程式相同
的資料夾中，檔案以[西元年月日時分秒]命名。
7.13. 元件狀態(Component Status)
l 此功能須入[Train]的畫面中才可以點選。
l 勾選[Pass]、[Fail]及[Untest]後，按下[Refresh]按鈕，系統會自動統計出本片
板子檢測時通過、缺點或是不測的元件數。
元件總數
7.14. 產生實體影像資料(Generate Real Image Data)
l 產生影像資料至 ICT 或 ATE 設備。
7.15. 線上元件資料輸出至SPC統計(Inline Component Data Output to
SPC)
l 將線上元件資料輸出至 SPC 統計。
7.16. 第二專案設定(Second Project Setting)
l 可設定兩個檢測程式以特定間隔輪流檢測。此功能目前尚在建構中。
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l Enable – 將此功能開啟。此功能為一次載入兩個程式，當檢測時符合下方輸
入的條件，系統會在兩程式之間作切換。
l Check Fiducial Mark – 當此程式找不到對位標記時，切換成第二個程式來檢
測。
l Count – 點選後輸入次數，當本程式檢測達指定次數時會切換到下一個程式
來檢測。
7.17. 檢測框操作(Inspection Box Operation)
l 指定檢測框並更改其檢測參數。
n 元件種類(Type List) – 系統自動列出程式中所有的元件類型
n 選擇元件(Select Type) – 選擇需要改變的元件類型。先點選需要改變的
元件類型後，按下 按鈕，可將選擇的類型移動到本欄位中。
n 檢測框屬性(Algorithm) – 選擇需要改變的檢測框類型。
n 鏡頭(Camera) – 選擇需要改變的攝影機鏡頭位置。
n 動作(Action) – 選擇需要改變的動作。
(1) Change Passlevel – 改變比對條件的分數。當選擇此選項時，下方
工具列會亮起，點選 鈕可以切換正負號，正號表示將原始的參
數加上後面輸入的數值，負號表示將原始的參數減掉後面輸入的數
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值，假設原始的參數為 60，且在此處設定為 ，則修
改後的參數會變成 65。若欄位中輸入的數字為 0，則表示選擇的參
數要回復到原本的設定值。相對屬性所修改的值如下：
Ø Missing, Missing_Polarity, Lead – Score
Ø Void, Lead Void – Bright Ratio
Ø Solder – Bridge Ratio
(2) Delete – 刪除檢測框
(3) Test – 設定為測試
(4) Train – 學習檢測框
(5) Untest – 設定為不測
(6) Untrain – 設定為未學習
n OK – 按下本按鈕後，系統會根據上述點選的內容進行動作。
n Cancel – 按下本按鈕，表示不作改變並將本視窗關閉。
7.18. 顯示系統參數(System Parameter Display)
l 按下此按鈕可檢視系統參數以及程式儲存時的參數。按下[寫入檔案]按鈕可
將參數值以文字檔輸出。若想要改變這個程式的檢測速度，可以在鍵盤上輸
入“tspeed”+[Enter]後直接點選[Project]的[Mspeed]欄位，修改速度，若所設
定的速度超出系統預設值，可能會造成無法檢測。
7.19. 空板檢測(Bare board)