TR7500E_Manual_ch_v28 - 第183页

第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 75 10.6.4. 移 至 中 心 ( M o v e C e nt e r ) l 在 顯示 影 像 時 ，若 因 攝影 機的 移 動 而 使得 指 定 的 元件 已 不 在 畫面 中 央 ， 或 移 出 畫面 之外 ，可按下此 鈕 ，可將 攝影 機 移 回此 元件 的座 標 中 心 位置 。 10.6.5. 擷 取 影像 ( C a p tu r e I…

100%1 / 290
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
174
小，且元件影像畫面會重新出現。
10.6.3. 合適尺寸(Suit Size)
l 按下次按鈕後，系統會在繪圖模式中以盡可能最適合的尺寸顯示所有檢測
框。
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
175
10.6.4. 移至中心(Move Center)
l 在顯示影像時，若因攝影機的移動而使得指定的元件已不在畫面中央，或移
出畫面之外，可按下此鈕，可將攝影機移回此元件的座標中心位置。
10.6.5. 擷取影像(Capture Image)
l 將元件的影像抓取下來，存成影像檔供遠端編輯站使用。系統將會在與程式
相同的資料夾中建立一個名為[OfflineImage]的資料夾，並將所抓取的影像依
形式及元件名稱存放
l 使用中的元件 – 按下此按鈕表示只抓取目前畫面中這顆元件的影像。一共
會抓取 2 張影像，分別為上方攝影機抓取各以[ToplightA]及[ToplightB]打光
的影像。
l 所有類型 – 對於電路板上的每一類型其第一顆元件(以元件名稱排列的第
一個)，分別抓取 2 張上述的影像。
10.7. 設定(Setting)
設定檢測方法的邏輯
設定檢測框的屬性
設定檢測框的比對條件
設定資料庫存放的位置
設定腳位排列的方向性
10.7.1. 檢測方法(Algorithm)
l 可以使用此視窗建立同一元件不同檢測框之間特殊的邏輯關係。
10.7.1.1
檢測方法視窗細部介紹
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
176
l 瑕疵(Defect) – 瑕疵名稱，可以針對此缺點的特性給予命名。
l 運算子(Operator) – 邏輯運算子的下拉選單，有三個可選擇，分別為
[&(AND)]、[|(OR)]以及[^(XOR)]。
n &(AND) – 所有以此邏輯連接起來的檢測框全部都通過這個瑕疵
的檢查才算通過。
n |(OR) –以此邏輯連接起來的檢測框中只要有一個通過，這個瑕疵的
檢查就算通過。
n ^(XOR) – 若兩個以此邏輯連接起來的檢測框檢測結果不相同(一
個過一個沒過)則此瑕疵的檢查才算通過，若結果相同(都通過或都
不通過)，則此瑕疵的檢查就不能通過。
l 邏輯(Logic) – 選定瑕疵名稱時此欄位會顯示此瑕疵所設定邏輯的方程
式。在建立新邏輯時可在下方列表視窗中點選目標運算式兩下，即可將
此運算式設定至[邏輯]欄位中。