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第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 76 l 瑕疵 ( D e f e c t ) – 瑕疵 名稱，可以 針 對 此 缺 點 的 特 性給予 命 名。 l 運 算 子 ( O p e r a t o r ) – 邏 輯運 算 子 的下 拉 選單 ，有 三 個可 選擇 ，分別為 [ & ( A N D )] 、 [ | ( O R )] 以 及 [ ^ ( XO R )] 。 n &…
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10.6.4. 移至中心(Move Center)
l 在顯示影像時，若因攝影機的移動而使得指定的元件已不在畫面中央，或移
出畫面之外，可按下此鈕，可將攝影機移回此元件的座標中心位置。
10.6.5. 擷取影像(Capture Image)
l 將元件的影像抓取下來，存成影像檔供遠端編輯站使用。系統將會在與程式
相同的資料夾中建立一個名為[OfflineImage]的資料夾，並將所抓取的影像依
形式及元件名稱存放
l 使用中的元件 – 按下此按鈕表示只抓取目前畫面中這顆元件的影像。一共
會抓取 2 張影像，分別為上方攝影機抓取各以[ToplightA]及[ToplightB]打光
的影像。
l 所有類型 – 對於電路板上的每一類型其第一顆元件(以元件名稱排列的第
一個)，分別抓取 2 張上述的影像。
10.7. 設定(Setting)
設定檢測方法的邏輯
設定檢測框的屬性
設定檢測框的比對條件
設定資料庫存放的位置
設定腳位排列的方向性
10.7.1. 檢測方法(Algorithm)
l 可以使用此視窗建立同一元件不同檢測框之間特殊的邏輯關係。
10.7.1.1
檢測方法視窗細部介紹
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l 瑕疵(Defect) – 瑕疵名稱，可以針對此缺點的特性給予命名。
l 運算子(Operator) – 邏輯運算子的下拉選單，有三個可選擇，分別為
[&(AND)]、[|(OR)]以及[^(XOR)]。
n &(AND) – 所有以此邏輯連接起來的檢測框全部都通過這個瑕疵
的檢查才算通過。
n |(OR) –以此邏輯連接起來的檢測框中只要有一個通過，這個瑕疵的
檢查就算通過。
n ^(XOR) – 若兩個以此邏輯連接起來的檢測框檢測結果不相同(一
個過一個沒過)則此瑕疵的檢查才算通過，若結果相同(都通過或都
不通過)，則此瑕疵的檢查就不能通過。
l 邏輯(Logic) – 選定瑕疵名稱時此欄位會顯示此瑕疵所設定邏輯的方程
式。在建立新邏輯時可在下方列表視窗中點選目標運算式兩下，即可將
此運算式設定至[邏輯]欄位中。
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1.
雙擊滑鼠左鍵
2. 結果：顯示運算式
l 群組/項目(Group/Item) – 在此位置可勾選[群組]或[視窗]，表示所要設
定邏輯的是群組或是直接使用選定的檢測框作設定。其詳細差別請見
[群組]按鈕的說明。
l 取得(Get) – 取得所點選的檢測框的名字，所取得的名稱會列在顯示的
視窗中。
n 選取單個檢測框名稱