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第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 82 n 若 設定 邏 輯 的 檢測框 是 位 於 IC 腳 上的 檢測框 ， 則 系統 會 詢問 是 否 要 將 邏 輯 複 製 到 其他 IC 腳 上 相 對 應 的 檢測框 上，若有需 要請 按 [ 是 ] ，系統將 會 出 現 視窗告 知複 製 了 多 少 個 邏 輯 ， 請 按 [ 確 定 ] 。
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
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l 刪除瑕疵(Del Defect) – 選擇瑕疵名稱後，點選[刪除瑕疵]，系統會出現
確認視窗，確認後請按[是]就可以將它刪除，若按[否]則不會進行刪除
的動作。
l 新增瑕疵(New Defect) – 在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按
滑鼠左鍵兩下，可將方程式列在[邏輯]視窗中，接著在[瑕疵]中輸入欲
給予的瑕疵名稱，再按下[新增瑕疵]，會出現確認視窗，確定無誤後按
[是]即完成設定新瑕疵。若按[否]則不會設定新瑕疵。
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
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n 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否
要將邏輯複製到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按
[是]，系統將會出現視窗告知複製了多少個邏輯，請按[確定]。
第三章、ATPG 功能介紹
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l 改變瑕疵(Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並
編輯欲修改的部分(瑕疵名稱或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出
現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕疵的設定，若按[否]則不會進
行改變的動作。