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第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 83 l 改變 瑕疵 ( C h a n g e D e f e c t ) – 可以 改變 瑕疵 的 邏 輯 或 名 稱。 選 取 一 瑕疵 並 編輯 欲 修 改 的 部 分 ( 瑕疵 名稱 或 邏 輯 方 程式 ) ， 接著 按下 [ 改變 瑕疵 ] 會 出 現確認 視窗 ， 確認後 按下 [ 是 ] 即 可 改變 瑕疵 的 設定 ，若按 [ 否 ] 則 …

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第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
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n 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否
要將邏輯複製到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，若有需要請按
[是]，系統將會出現視窗告知複製了多少個邏輯，請按[確定]。
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
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l 改變瑕疵(Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並
編輯欲修改的部分(瑕疵名稱或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出
現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕疵的設定，若按[否]則不會進
行改變的動作。
第三章、ATPG 功能介紹
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l 檢視(View) – 按下[檢視]按鈕可以把[邏輯]完字方塊中有關的檢測框在
圖上用紅色顯示出來。
10.7.1.2
設定檢測方法步驟
步驟1. 在畫面中選擇欲設定邏輯的檢測框(可按住鍵盤的「Ctrl」後以滑
鼠點選來選擇多個檢測框)。
步驟2. 選定[運算子]種類、勾選[視窗]後按下[群組]，則所選擇的檢測框
名稱會用運算子連接起來並列在下方列表中。