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第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 86 步驟 5. 若 設定 邏 輯 的 檢測框 是 位 於 IC 腳 上的 檢測框 ， 則 須將 邏 輯 複 製 到 其他 IC 腳 上 相 對 應 的 檢測框 上， 對 於 系統 詢問 按下 [ 是 ] 。 10.7.2. 屬性 ( P r op e r t y ) l 在此可以 設定檢測框 屬 性 的 參數 ， 屬 性 設定 說明如 下 ：
第三章、ATPG 功能介紹
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步驟3. 在列表上使用滑鼠左鍵按欲設為邏輯的方程式兩下，將此方程式
列在[邏輯]欄位中。
步驟4. 給予新瑕疵名稱並輸入在[瑕疵]欄位中，接著按下[新增瑕疵]按
鈕，此檢測方法即設定完成。
第三章、ATPG 功能介紹
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步驟5. 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則須將邏輯複製
到其他 IC 腳上相對應的檢測框上，對於系統詢問按下[是]。
10.7.2. 屬性(Property)
l 在此可以設定檢測框屬性的參數，屬性設定說明如下：
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l (pin-1) – 表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框
不檢測任何 IC 腳。
l 元件形式 – 顯示元件的封裝形式
l 名稱 – 顯示選擇的檢測框名稱
l 角度 – 顯示此元件的角度，若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
l X – 顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位
置為原點，向右為正。
l Y – 顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位
置為原點，向上為正。
l DX – 顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
l DY – 顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。
l 測試(Test) – 下拉式選單選擇此檢測框是否要測試。
l 攝影機(Camera) – 此檢測框要使用上方攝影機取像。
l 光源(Lighting) – 選擇一個此檢測光要使用的光源。
l 方法(Method) – 可由此選擇檢測框的檢測方法。
l 搜尋範圍(Search Range) – 勾選可以設定 Missing 框或 Lead 框的搜尋範
圍。若有在此設定則會在後方 X 及 Y 欄位顯示搜尋範圍大小(單位為
um)，此欄位只能顯示而不能輸入。若沒有設定則在 X 及 Y 欄位中顯示
0，且在轉入主程式後系統會以預設值自動設定搜尋範圍。