TR7500E_Manual_ch_v28 - 第217页
第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 2 09 n B / W T h r e s h o l d – 判 定 黑 與 白 分 野 的 門檻值 。 n B r i g h t R a t i o – 則 表 示 檢測框 中 白色 所 佔 的 比 例 。 n TE S T M e t ho d u B r i g h t – 若 檢測框 中 白色 區 域 超 出 設定 的 比 例 則 判 定 為 瑕疵 …
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
208
個好的 IC 腳影像當樣本，再將待測元件與之比對。
l 檢測參數設定畫面
n Similarity – 待測影像與標準影像之相似度標準
n Shift X – 待測元件之 X 方向位移的容許程度
n Shift Y – 待測元件之 Y 方向位移的容許程度
n Skew Difference – 相鄰兩個[Lead]框之間的高低差的容許程度
11.2.3. Void
l 此檢測框是用來檢查元件的空焊、缺件、極性。利用灰階值(0-255)來設定門
檻值及所佔比例來判斷是否通過檢測，且可以設定檢測框是要抓亮還是抓
暗。
l 檢測參數設定畫面
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
209
n B/W Threshold – 判定黑與白分野的門檻值。
n Bright Ratio –則表示檢測框中白色所佔的比例。
n TEST Method
u Bright – 若檢測框中白色區域超出設定的比例則判定為瑕疵。
u Dark – 若檢測框中白色區域低於設定的比例則判定為瑕疵。
11.2.4. Lead void
l 用來檢查IC 腳的空焊、翹腳。利用灰階值(0-255)來設定門檻值及所佔比例
來判斷是否 NG，為一黑抓白之邏輯運算。與 Void 之檢測原理相同，唯一之
差異是 train 時軟體會先將亮的區域不列入計算，因此就算相同尺寸之檢測
框在計算時每個檢測框之分母仍將會有所差異。
l 檢測參數設定畫面
n B/W Threshold – 判定黑與白分野的門檻值
第三章、ATPG 功能介紹
TR7500E 使用手冊
210
n Bright Ratio – 檢測框中白色佔檢測區域的比例容許值
11.2.5. Pin
l 此檢測框是用來檢查元件的偏移、錫多、錫少。利用灰階值(0-255)來設定門
檻值及所佔比例來判斷是否通過檢測。程式製作時需先學習(Train)檢測框中
亮的區域大小，再根據設定之參數來決定可容許之亮暗比例。
l 檢測參數設定畫面
n B/W Threshold – 判定黑與白分野的門檻值
n High Ratio – 檢測框中白色區域面積與學習而得的白色面積的最大比
例容許值
n Low Ratio – 檢測框中白色區域面積與學習而得的白色面積的最小比例
容許值
11.2.6. Solder
235%(OS:135)
40%(LS:-60) 100%