KE-3010A_20VA_20VRA使用说明书 - 第1120页
第2部 功能详解篇 第1 3章 选项 组件 13-94 13-15 元件验证系统( CVS ) 13-15-1 概要 元件验证系统是在生产前检查即将贴片的元件,目的在于事先发现: · 元件错误 · 极性错误 · 供料器安装位置错误 等问题。 13-15-1-1 对象元件 检查的对象元件如下。 对应元件类型 检查条件 ・ 方形芯片 ・ 叠层陶瓷电容 ・ 钽芯片电容 ・ 铝电解电容 ・ 芯片膜电容 ・ 2 针脚二极管 ・ 电极有两极,在底面…

第2部 功能详解篇 第13章 选项组件
13-93
13-14-11 下载生产时的运用方法
要从 IS 的下载和使用「识别镀锡印刷补偿贴片位置的功能」进行生产时,请按下列办法执行。
* 在贴片数据里进行设置,使要作为镀锡标记使用的贴片点位于可识别镀锡的生产线的最后站台上。
但,生产计划的[多项优化(multioptimize)] 选项中采用 [群控方式取消送料器交换]、[交互切换
供料器配置领域]优化功能时,由于指定的站台要被忽略,这些多项优化选项不能使用。
* IS 的随需应变生产时,由于在[多优化]选项中,必须使用[不在群控内更换送料器]优化,因此无法
使用识别镀锡印刷补偿贴片位置功能。
* 使用 IS 进行优化时,需要在主机上进行再示教(镀锡标记数据)。
* 由多台装置构成生产线时,下游装置不能在上游装置已贴装元件的位置上注册焊锡识别标志。要在
生产线上使用识别镀锡印刷补偿贴片位置功能时,建议:在各个装置上设置不同的焊锡识别标记
位置,或把要在最下游装置贴装的位置作为焊锡识别标记注册。

第2部 功能详解篇 第13章 选项组件
13-94
13-15 元件验证系统(CVS)
13-15-1 概要
元件验证系统是在生产前检查即将贴片的元件,目的在于事先发现:
·元件错误
·极性错误
·供料器安装位置错误
等问题。
13-15-1-1 对象元件
检查的对象元件如下。
对应元件类型 检查条件
・
方形芯片
・
叠层陶瓷电容
・
钽芯片电容
・
铝电解电容
・
芯片膜电容
・
2 针脚二极管
・
电极有两极,在底面且在对边的元件
・
电极间距离为 10mm 以下的元件
・
对角尺寸为□10.00mm 以下的元件
・
单独测量时,为小元件 0402 以上
・
同时测量时,为小元件 1005 以上
(但,元件尺寸的长边为 0.95mm 以上的)
※由于吸取偏差,未能吸取元件中心时,有时会变为单独测量。
※二极管仅限一般整流用二极管(发光二极管及稳压二极管除外。)
13-15-1-2 检查项目
检查项目如下:
1) 电阻值
测量范围:10Ω~1MΩ 测量精度:±5%
注
1
2) 静电容量
测量范围:100pF~100μF 测量精度:±20%
注
1
3)二极管极性
测量范围:正向电压1.8V以下 开路电压0~4.3V
注 1:测量精度,对于对象元件的允许误差存在测量误差,需要考虑这个因素后,输入制作程序
(13-15-2-3 章 元件数据编辑)的上限、下限值。
(例):电阻值误差为±5%的方形芯片,上限值要输入10、下限值要输入(-)10。
13-15-1-3 验证检查功能
验证检查有「连续检查」和「单独检查」两种模式。 以下说明各个模式的功能。
工具菜单 运行模式 运行内容
验证单独检查 单独检查 对在连续检查模式中发现错误的元件进行个别检
查。
验证连续检查 连续检查 对生产程序数据内的全部元件/条件一致的元件
进行检查,最多同时检查 6 个元件。
因某种原因检查失败的元件,可用单独模式进行
个别检查。
吸取位置、供给方向等有错误时,有时不能检查得正确。
注意

第2部 功能详解篇 第13章 选项组件
13-95
13-15-1-4 关于执行测量时的各项运行
(1) 吸取时使用的 Head
可以 6 个轴同时测量。
吸取时使用的 Head 可自动选择。
(2) 检查后放回元件
检查后的元件,有的放回原来的位置,有的废弃。处理情况因包装而异,请参见下表。
废弃的地方,按元件数据的「元件废弃」所设置的内容进行处理。
1mm 以下的元件,因有元件站立、翻转等可能性,请在显示询问框后,从对话框中选择动作。
·放回元件/废弃元件
包装 条件 放回 废弃
带式/散件
外形尺寸短边 1mm 以下 询问 ﹡1、﹡3
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○﹡2、﹡3
·﹡1 显示对话框时请选择是放回元件、还是废弃。连续测量时会在开始前显示对话框。
·﹡2 废弃方法为「IC 回收带」「元件保护」时,进行废弃。
·﹡3 32mm 纸粘着带式供料器时为废弃。
(3) 选择吸取的供给装置
同一元件有多个供给装置(吸取数据)时,默认值为按照孔编号顺序吸取元件。
只有单独检查时,可根据要求更换装置。
(4) 更改吸取坐标
吸取状况不理想时,可用手动示教坐标,更改吸取坐标。