KE-3010A_20VA_20VRA使用说明书 - 第609页

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4-213 4-5-4-2-2 测量种类 各种测量项目的功能概要如下表所示。 测量项目 测量内容 备注 元件尺寸 ( 纵横 ) 测量实际的元件外形尺寸 元件横方向 元件纵方向 自动计算最适合的吸嘴编号 吸嘴编号 吸取时的真空压力 测量实际的元件吸取时的真空压力 元件高度 测量实际的元件高度 元件高度 自动计算最适合的激光定心值 仅图像定中心 激光高度 芯片站立判定值 引脚尺寸 测量实际的引脚…

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1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
4-212
4-5-4-2 测量
Head上安装实际元件,用激光或图像执行测量后,把其数据反映到生产程序的功能。
注意
为了避免人身伤害,在机器运行过程中,切勿将手和头伸入装置内部。
4-5-4-2-1 测量模式
有「连续测量」和「单独测量」2种测量模式。
可选择菜单切换运行模式。
以下为各模式的功能。
测量子菜单 运行模式 运行内容
单独 单独测量 测量元件画面表格中显示的元件。
连续 连续测量
测量生产程序数据内所有元件/条件一致的元件。
测量中因某种原因测量失败的元件可进行单独测量。
以下为各测量模式的处理运行概要流程图。
连续测量开始
条件设定
(对话框)
结果存入
生产程序
显示结果
(对话框)
测量
有测量对象
元件吗?
详细测量
连续测量结束
单独测量
有对象元件
中止
无对象元件
测量下一个元件
结束
单独测量开始
条件设定
(对话框)
中止
开始测量
测量
显示结果
(对话框)
结果存入
生产程序
单独测量结束
结束
单独测量流程图
连续测量流程图
重测
1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
4-213
4-5-4-2-2 测量种类
各种测量项目的功能概要如下表所示。
测量项目 测量内容 备注
元件尺寸(纵横)
测量实际的元件外形尺寸
元件横方向
元件纵方向
自动计算最适合的吸嘴编号
吸嘴编号
吸取时的真空压力 测量实际的元件吸取时的真空压力
元件高度
测量实际的元件高度
元件高度
自动计算最适合的激光定心值
仅图像定中心
激光高度
芯片站立判定值
引脚尺寸
测量实际的引脚尺寸
仅激光定中心
引脚间距
引脚长度
引脚个数/欠少信息
CDS 高度
(仅 KE-3020VA
CDS 高度
图像识别元件时
可以测量
(1) 测量项目的各种功能
1) 元件尺寸测量功能
通过激光及图像识别装置测量元件的纵横尺寸。
同时自动计算最适合的吸嘴编号。测量方式如下所示。
对象元件 方式
激光识别元件 ①用激光获得当前的元件角度
②将 θ 旋转到 0 度,以激光宽度作为横向尺寸
③将 θ 旋转到 90 度,以激光宽度作为纵向尺寸
图像识别元件 ①用图像识别装置识别元件获取元件外形尺寸。
②以应答后获得的值作为纵横尺寸。
2) 元件高度测量功能
用激光测量元件高度。同时自动计算最适合的激光高度及芯片站立判定值。
测量方式如下所示。
对象元件 方式
激光识别元件
图像识别元件
①上下移动元件。
②将元件有阴影的范围作为高度尺寸。
3) 元件真空压力测量功能
测量吸取元件时的真空压力。测方式如下所示。
对象元件 方式
激光识别元件
图像识别元件
①吸取元件,获得 Head 真空压力级别。
②将获得的值作为 Head 真空级别。
1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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4) 引脚信息测量功能
利用图像识别装置测量引脚信息。仅限于图像定中心的元件进行测量。测量方法如下。
对象元件 方式
图像识别元件 ①利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
②将获得的值作为引脚尺寸。
5) CDS 高度测量功能( KE-3020VA)
用激光测量 CDS 高度。测量方法如下所示。
对象元件 方式
图像识别元件 ①上下移动元件。
②将元件的阴影部分范围作为高度尺寸。
(2) 元件类型本身的测量项目限制
因元件数据的元件类型不同,测量项目会受到下列限制。
编号
元件类型
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
CDS
高度
纵横 高度
1
方形芯片 激光
2
圆筒形芯片 激光
3
铝电解电容
激光
图像
4 GaAsFET
激光
图像
5 SOT
激光
6 SOP
激光
图像 ○*1 ○*1
7 SOJ
激光
图像
8 QFP
激光
图像 ○*1 ○*1
9 PLCC(QFJ)
激光
图像
10 PQFP(BQFP)
激光
图像 ○*1 ○*1
11 TSOP
激光
图像 ○*1 ○*1
12 TSOP2
激光
图像 ○*1 ○*1
13 BGA
激光
图像
14
网络电阻 激光
15
微调电容器 激光
16
单向引脚连接器
激光 *2
图像 ○*1, *2
17
J 引脚插座
激光
图像
18
鸥翼形插座
激光
图像