TR7700QE_Software_ch-v3.0_20180328 - 第363页

Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 340 8 特殊功能 8.1 2D 異物檢測功能  用途: 用來檢 查在 SMT 製程中發生其他異物或者 元件掉落在電路板上錯 誤位置的情況。 備註:需要有一片 標準樣品 (Golden sample) 的電路板提供教導 專案使用。  操作流程: 步驟 1. 將標準樣品 (Golden sam ple) 進板至機台檢測位…

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TR7700QE User GuideSoftware 339
5313D 模組 3D 檢測框邊界範圍
(角度設定)快速的切換到預設的不同角或重置角
532 3D 模組快速切換角度功能
Test Research, Inc.
TR7700QE User GuideSoftware 340
8 特殊功能
8.1 2D 異物檢測功能
用途:用來檢查在 SMT 製程中發生其他異物或者元件掉落在電路板上錯誤位置的情況。
備註:需要有一片標準樣品(Golden sample)的電路板提供教導專案使用。
操作流程:
步驟1. 將標準樣品(Golden sample)進板至機台檢測位置。
步驟2. [開始]>[流程配置]>[一般設定]中選擇教導異物檢測影像
533:教導異物檢測影像
步驟3. 同上一個設定視窗,設定檢測模式為試模式,並設定重複次數只少大於 10 次。
步驟4. 勾選[開始]>[產品配置]裡的異物檢測
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534:產品配置啟用異物檢測功能
步驟5. 選擇全圖模式或原圖模式中[編輯]頁籤編輯異物檢測
535:全圖模式編輯異物檢測
536:原圖模式編輯異物檢測
步驟6. 系統會自動切換到異物檢測頁籤如下圖所示。使用者可以利用這個頁籤進行相關編輯。
537:異物檢測頁籤
遮罩形狀
矩形:新增矩形遮罩。
圓形:新增圓形遮罩。