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Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 42 圖 66 :編輯元件 資料庫 – 晶片 (Chip) 元件 – 調整 C AD 方格 與元件本體 大小相符 步驟 3. 點選 ” 模組化資 料庫 ” 頁籤,會跳出 如下圖的視窗。 圖 67 :模組化資 料庫 步驟 4. 選擇與原圖中元 件相對應的元件圖 式。以範例來說 ,原圖中的元件為晶片 電容,所 以我們需選擇其對應…

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65:進入元件原圖
步驟2. 點選 CAD 方格,並調整其大小與元件本體大小相符,如下圖所示。
在欲製作檢測框
的元件類型上點
選滑鼠左鍵兩下
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66:編輯元件資料庫晶片(Chip)元件調整 CAD 方格與元件本體大小相符
步驟3. 點選模組化資料庫頁籤,會跳出如下圖的視窗。
67:模組化資料庫
步驟4. 選擇與原圖中元件相對應的元件圖式。以範例來說,原圖中的元件為晶片電容,所
以我們需選擇其對應的圖示 。點選之後,系統會自動產生此元件所需的
測框,如下圖所示。
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68:編輯元件資料庫晶片(Chip)元件套用模組元件庫來產生元件所需的檢
測框
步驟5. 接著,調整每個檢測框的大小與參數,來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測
框的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數,將說明於接下來的章節。
步驟6. 對於有導腳的元件,使用者需要使用到導腳框的功能,以下將以積體電路元件來作
示範,或參閱 5.3.9 。同步驟 2)
,使用者須將元件本體框調整至與元件本體大小相
符,如下圖所示。(於較大的元件,請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)