TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101 - 第106页
Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 83 確認側立:啟用側立檢 測功能。 ( 僅在 Chip 類型時會出現 ) - 相對高度標準:設定兩 個區塊內的平均高 度差異容許值。 圖 131 : 3D 框 – 相對高度與 確認側立 功能差異計算示意 圖 夾角量測 - 夾角角度:設定高度平 面與水平面的夾角 容許值。 高度上限 (%) :將檢測框內所有位 置…

Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 82
圖 129:3D 框 – Chip 類別檢測框配置示意圖
- Lead:僅用於有導腳的元件。計算高度的方式是以檢測框內部所有位置的高度進行平
均。檢測框須放置在導腳尾端位置(作為 Layer1)。框的位置配置如下圖所示。
圖 130:3D 框 – Lead 類別檢測框配置示意圖
絕對高度:絕對高度指的是 Base 層到 Layer 層的高度。
- 絕對高度標準:設定絕對高度值。
- 絕對高度上限:設定絕對高度值的上限。
- 絕對高度下限:設定絕對高度值的下限。
相對高度:啟動相對高度的參數檢測。
- 相對高度標準:設定兩個區塊內的平均高度差異容許值。對於晶片元件,相對高度指的
是元件不同區域間所算出高度的相對差異;對積體電路元件,相對高度指的某一導腳與
同一排最低導腳的高度差異。
Layer1

Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 83
確認側立:啟用側立檢測功能。(僅在 Chip類型時會出現)
- 相對高度標準:設定兩個區塊內的平均高度差異容許值。
圖 131:3D 框 – 相對高度與確認側立功能差異計算示意圖
夾角量測
- 夾角角度:設定高度平面與水平面的夾角容許值。
高度上限(%):將檢測框內所有位置的高度值畫出常態分佈圖,然後將此值到 100%內的
值濾掉不列入計算。
高度下限(%):將檢測框內所有位置的高度值畫出常態分佈圖,然後將 0 到此值濾掉不列
入計算。
進階參數與其相對應的合格標準
高度補償:設定高度自動補償的容許值。
- Solder:用來量測爬錫狀態。

Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 84
圖 132:3D 框 – Layer 層 – Solder 類型參數設定畫面
導腳高度
- 絕對高度標準:設定絕對高度值。絕對高度指的是導腳位置至底板的預期高度。
- 絕對高度上限:設定絕對高度值的上限。
- 絕對高度下限:設定絕對高度值的下限。
爬錫能力
- 高度:設定錫膏爬到元件側壁所需的高度。
- 體積(%):設定爬錫所需要佔的體積比例。
- 焊點高低差:設定爬錫最高點與最低點差異的容許值。
焊盤高度
- 上限:設定焊盤錫高上限。
自動套用:自動計算檢測框設定在 1-4 層時的高度。
3.6.2 焊錫高度(3DSolder)框
1) 用途:用來量測元件的爬錫狀態。
2) 檢測原理:利用 3D 高度來量測爬錫狀態。
檢測配置方式:如下圖所示,檢測框位置大小須包含完整的錫墊(略大於焊盤)、元件電極端與元