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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 138 圖 226 ： 低內 / 外部遮罩 說明 最大教導區塊數量：設 定教導區塊數量的 最大值，超過的部 分其區塊將不會 被教導。 最小教導面積：設定作 為教導影像中區塊 的最小面積 ( 預設 5 000 μm) 。如下圖所示， 若設 定為 2000 μm 時，邊緣的碎小異物也會被 加到教導的標準影 像中 ( 如左…
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圖 225：輪廓檢測設定畫面
硬體：
相機：顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準：
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法，預設為權重法。
檢測模式：選擇使用 Pattern 模式或者 Edge 模式。
輪廓向內/外上限：設定金手指輪廓向內/向外長度的限制。假如金手指邊緣往內/外有連續
超過設定長度的區塊，即判定為不良 (預設 30μm)。
輪廓凹凸面積上限：設定凹陷與凸出的最小缺陷面積。當檢測結果大於設定值時，即為不
良。
異物最大面積：設定異物的最大面積。當檢測結果大於設定值時，即為不良。
區塊數量：檢測區塊數量是否與教導的數量相同。當檢測結果不同於設定值時，即為不良。
進階參數與其相對應的合格標準：
輪廓向內/外遮罩：找到的金手指輪廓往內/外多少長度去進行遮罩動作。如下圖所示，若
找到的輪廓邊緣為紅色線條，藍色的線條即表示向內遮罩，而綠色的線條即表示向外遮罩。
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圖 226：低內/外部遮罩說明
最大教導區塊數量：設定教導區塊數量的最大值，超過的部分其區塊將不會被教導。
最小教導面積：設定作為教導影像中區塊的最小面積(預設 5000μm)。如下圖所示，若設
定為 2000μm 時，邊緣的碎小異物也會被加到教導的標準影像中(如左下圖)。此時，使用
者須設定為 12000μm，將較佳的影像教導成為標準影像進行待測物的比對(如右下圖)。
圖 227：教導面積下限說明圖示
異物檢測：設定進行外部異物的檢測。若沒有勾選時，如左下圖所示，外部的異物不會被
列入區塊面積內進行比對計算。若有勾選時，如右下圖所示，外部的異物將會被列入區塊
面積內進行比對計算。
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圖 228：異物檢測說明圖示
區塊確認：啟用區塊數量確認功能。
內部對位：依據教導的影像進行自動對位動作。
檢視字元搜尋範圍：當教導影像後，系統會針對每個字元新增獨立的檢測框並有各自的檢
測範圍。
圖 229：檢視字元搜尋範圍範例
邊界範圍：FOV 影像邊界往內濾除的範圍(預設 250μm)。此功能是在避免當教導的影像
邊緣有不完整的金手指區塊而導致誤判。如左下圖為為設定此參數為 250 時，而右下圖為
設定此參數為 0 時。