TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101 - 第191页
Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 168 3.7.6 積體電路 ( IC ) 圖 267 ：積 體電路元件 所需檢測框說明 演算法： Chip 框 用途：檢測缺件 演算法： OCV 或 OCR 框 用途：檢測錯件 演算法： Lead 框 用途：檢測腳翹 演算法： V oid 框 用途：檢測空焊 演算法： B ridg e 框 用途：檢測短路
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3.7.5 三極管(TO)
圖 266：三極管元件所需檢測框說明
演算法：Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：CorMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Void 框
用途：檢測空焊
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Void 框
用途：檢測空焊
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
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3.7.6 積體電路(IC)
圖 267：積體電路元件所需檢測框說明
演算法：Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：OCV 或 OCR 框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Void 框
用途：檢測空焊
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
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3.7.7 四方平面無引腳封裝(QFN)
圖 268：QFN 元件所需檢測框說明
演算法：Chip 框
用途：檢測缺件並定位
Void 框
演算法：OCV 或
OCR 框
用途：檢測錯件
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
演算法：CorMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Void 框
用途：檢測錫多或錫少