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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 259 – 高度量測：利用三角函 數與畫素偏移量來 量測元件高度。此 功能僅能在非上 鏡頭下使用。 如以下範例，當切換到 前鏡頭後，可以按 下此功能，然後將 本體框的位置移 動到元件在該 視角下所看到的元件位 置。此時，量測出 來的高度會顯示在 右方，如下圖所 示。 圖 412 ：高 度量測功能 示意圖 – 板彎量測：進行板…
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圖 410：[編輯-原圖模式]頁籤面板 – 檢視模式 – 可見度
主動模式：僅顯示與選擇相同類型的檢測框。
本體框+導腳框：顯示本體框+導腳框。
檢測框：顯示所有檢測框。
當前燈光檢測框：僅顯示當前燈光的檢測框。
多件檢測框：顯示多件檢測功能使用的檢測框。
搜尋範圍：顯示搜尋範圍。
連結：顯示連結關係。
處理後影像：顯示經影像模式處理後的情況。
所有其他類型的本體框：顯示 FOV 中所有的本體框。
上鏡頭的定位檢測框：在側面相機顯示上鏡頭的定位檢測框(有代料影像的檢測框，如
PatMatch、CorMatch…等)。
不測的框：顯示設定為不檢測的檢測框。
高度映射圖：以灰階顯示元件的高度狀況，需搭配 3D 雷測才能使用。
焊盤框：顯示焊盤框。
三維/高度/異物檢測
圖 411：[編輯-原圖模式]頁籤面板 – 三維/高度/異物檢測
– 檢視器：開啟 3D檢測元件功能。詳情請參閱 7.1。
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TR7500QE User Guide–Software 259
– 高度量測：利用三角函數與畫素偏移量來量測元件高度。此功能僅能在非上鏡頭下使用。
如以下範例，當切換到前鏡頭後，可以按下此功能，然後將本體框的位置移動到元件在該
視角下所看到的元件位置。此時，量測出來的高度會顯示在右方，如下圖所示。
圖 412：高度量測功能示意圖
– 板彎量測：進行板彎的量測。如下圖所示，灰色的水平線為底板的高度基準線。若發現其
位置並不是元件接觸底板的位置，可以手動移動到正確的位置。此時，系統會依據移動的
距離進行板彎程度的計算，並顯示出其板彎值在畫面右上方。
備註：當高度基準值被調整後，僅有該元件會進行板彎補償動作。
圖 413：板彎量測功能示意圖
– 編輯異物檢測：使用異物檢測功能，其詳細設定請參閱 8.1 與 8.9。
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TR7500QE User Guide–Software 260
5.3.11 編輯資料庫
資料庫是用來記錄使用者針對每個元件所製作的檢測框與其相關參數。當往後製作新專案時，使
用者可以藉由載入先前已經製作好的資料庫檔案，來節省重新製作同類別元件檢測框的時間。當
使用者按下專案儲存按鈕時，系統會自動儲存元件資料庫到指定的目錄。預設的路徑是
C:\AOI\TRI_SYS_LIB，格式是.pkc。
圖 414：[編輯資料庫]頁籤面板
載入
– 此類別：可手動開啟資料庫來做搜尋。可依據名稱、導腳數量、本體大小、間距來搜尋資
料庫。