TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101 - 第364页
Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 341 圖 532 ：勾 選多件檢測 功能 步驟 5. 按下 [ 測試 ] 。
Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 340
8.3 多件檢測
用途：用來檢查在 SMT 製程中不須上件的位置是否有多上件的問題。
備註：此功能的檢測速度比異物檢測功能還要快速。此外，當開啟功能時，會影響資料庫設
定。
操作流程：
步驟1. 在原圖模式下，選擇要測試多件的元件檢測框 。
步驟2. 在框屬性取消勾選[上件]。此範例以 3D高度來測試多件。
圖 530：取消勾選[上件]功能
步驟3. 將絕對高度設定為沒有元件的高度，使檢測框檢測結果為不良。
圖 531：設定絕對高度為無元件的高度值
步驟4. 選擇[開始]>[產品配置]，並勾選 “多件檢測”功能。
Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 341
圖 532：勾選多件檢測功能
步驟5. 按下[測試]。
Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 342
8.4 解碼失敗替代條碼功能
用途：當預設的 2D 條碼解碼失敗時，系統可以自動改用貼在此條碼旁邊的印刷條碼文字取
代解不出來的 2D條碼。
備註：此功能不支援 OCR、硬體和流水號條碼檢測框。
操作流程：
步驟1. 先建立 2D條碼檢測框。
圖 533：新增 2D 條碼檢測框
步驟2. 再次新增次要檢測框。
圖 534：新增次要檢測框
步驟3. 勾選次要檢測框的[解碼失敗的替代影像]後，在設定其影像角度。