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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 43 圖 68 ：編輯 元件資料庫 – 晶片 (Chip) 元件 – 套用模組元件庫 來產生元件 所需的檢 測框 步驟 5. 接著，調整每個檢測框 的大小與參數，來 達到該檢測框所要 檢測的項目。關 於檢 測框的檢測影像處理方 式、對比方式以及 其檢測原理與參數 ，將說明於接下 來的 章節。 步驟 6. 對於有導腳的元件，使…

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圖 66：編輯元件資料庫 – 晶片(Chip)元件 – 調整 CAD 方格與元件本體大小相符
步驟3. 點選”模組化資料庫”頁籤，會跳出如下圖的視窗。
圖 67：模組化資料庫
步驟4. 選擇與原圖中元件相對應的元件圖式。以範例來說，原圖中的元件為晶片電容，
所以我們需選擇其對應的圖示 。點選之後，系統會自動產生此元件所需
的檢測框，如下圖所示。
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圖 68：編輯元件資料庫 – 晶片(Chip)元件 –套用模組元件庫來產生元件所需的檢
測框
步驟5. 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢
測框的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數，將說明於接下來的
章節。
步驟6. 對於有導腳的元件，使用者需要使用到導腳框的功能，以下將以積體電路元件來
作示範，或參閱 5.3.9 。同步驟 2)
，使用者須將元件本體框調整至與元件本體大
小相符，如下圖所示。(對於較大的元件，請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)
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圖 69：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 調整 CAD 方格與元件本體大小相
符
步驟7. 接著，點選 後，在積體電路的導腳上排最左邊的導腳上拖曳出檢測框。