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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 44 圖 69 :編輯 元件資料庫 – 積體電路 (IC) 元件 – 調整 CAD 方格 與元件 本體大小 相 符 步驟 7. 接著,點選 後,在 積體電路 的導腳上排最左邊的導腳上拖曳 出檢測框。

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68:編輯元件資料庫晶片(Chip)元件套用模組元件庫來產生元件所需的檢
測框
步驟5. 接著,調整每個檢測框的大小與參數,來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢
測框的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數,將說明於接下來的
章節。
步驟6. 對於有導腳的元件,使用者需要使用到導腳框的功能,以下將以積體電路元件來
作示範,或參閱 5.3.9 。同步驟 2)
,使用者須將元件本體框調整至與元件本體大
小相符,如下圖所示。(對於較大的元件,請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大)
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69:編輯元件資料庫積體電路(IC)元件調整 CAD 方格與元件本體大小
步驟7. 接著,點選 後,在積體電路的導腳上排最左邊的導腳上拖曳出檢測框。
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70:編輯元件資料庫積體電路(IC)元件新增第一個導腳框
步驟8. 選擇導腳群組後,按下確定
步驟9. 點選 ,此時系統會在積體電路元件上排最右邊的導腳上也產生另外一個
導腳框。(若產生的位置不正確,使用者可以使用鍵盤的上下左右鍵進行微調。)