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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 49 圖 75 ：編輯 元件資料庫 – 積體電路 (IC) 元件 – 旋轉複製 導腳框 步驟 15. 最後，同步驟 3) ，點選 ” 模組化資料庫 ” 頁籤，並點選 ，系統會自動產生 所有的檢測框。
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步驟13. 此時，再次選取上排所有的導腳框後，點選 ，系統會在積體電路元件的下
方一排導腳上產生導腳框。
圖 74：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 垂直鏡射產生多個導腳框
步驟14. 接著，選取上下兩排所有的導腳框，點選 並選擇 90 度，系統會在
積體電路元件的左右兩排導腳上產生導腳框。
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圖 75：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 旋轉複製導腳框
步驟15. 最後，同步驟 3)，點選”模組化資料庫”頁籤，並點選 ，系統會自動產生
所有的檢測框。
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圖 76：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 套用積體電路模組資料庫
步驟16. 同步驟 5)，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
手動增加檢測框：
步驟1. 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何
一個元件的 CAD方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。
步驟2. 點選左上方頁籤面板中的 。
步驟3. 在原圖畫面上想要新增檢測框的位置拖曳一個適當大小的檢測框，系統會自動跳
出以下視窗。