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Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 50 圖 76 ：編輯 元件資料庫 – 積體電路 (IC) 元件 – 套用 積體電路模組 資料庫 步驟 16. 同步驟 5) ，調整每個檢測框的大小 與參數，來達到 該檢測框所要檢測的項 目。 手動增加檢測框： 步驟 1. 直接在元件清單顯示區 點選想要製作檢測 框的元件上按兩下 ，或者在大圖上 任何 一個元件的 CAD…
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圖 75：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 旋轉複製導腳框
步驟15. 最後，同步驟 3)，點選”模組化資料庫”頁籤，並點選 ，系統會自動產生
所有的檢測框。
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圖 76：編輯元件資料庫 – 積體電路(IC)元件 – 套用積體電路模組資料庫
步驟16. 同步驟 5)，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
手動增加檢測框：
步驟1. 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何
一個元件的 CAD方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。
步驟2. 點選左上方頁籤面板中的 。
步驟3. 在原圖畫面上想要新增檢測框的位置拖曳一個適當大小的檢測框，系統會自動跳
出以下視窗。
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圖 77：新增檢測框設定視窗
步驟4. 使用者需先選擇想要的檢測框演算法和缺陷類型後，按下[確定]。
步驟5. 若要刪除檢測框，可以點選欲刪除的檢測框後，按下 或者熱鍵[Del]來刪
除。
步驟6. 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。