Holly赫立麟翔系列在线AOI使用手册 - 第28页
上海赫立电子 科技有限公司 在线型自动光 学检测仪 使用手册 第 27 页 共 64 页 IC SOP QFP 2-3-6. Bad Mark Bad Ma rk （ 拼板坏 板标识 ）检测库 主要用于自动 屏蔽检测受检电 路板任一拼 板坏板（ 所谓拼 板坏板 是指因板 材自身来料不 良而造成个别拼板 报废，该报废拼板往往 不贴装任何元 件） 。 对于一个检 测程序来说， 电路板有几 块拼版就 会有几个 Bad Ma rk 。当 Bad…
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取）、侧立（亮度投射最小跨度）、立碑（亮度抽取）、反贴（亮度平均值）、通用（全板匹配剔除）、通
用（片式元件定位）、通用（窗口生成）、缺锡（亮度抽取）、虚焊（亮度抽取）、漏铜（颜色抽取）、错
件（亮度抽取）、偏移（亮度极差/亮度投射最小跨度）等。
有些情况下，为了更好地确保检测出某种缺陷，可同时添加多个以该种缺陷名称命名的检测窗口，
并配以使用多种不同的检测算法。通过合理设置算法参数调节这些窗口之间的兼容和互补，即可以起到
保证检出率的效果，同时也可以起到降低误报率的效果。
以 R0402 为例，现在讲解具体的检测库制作方法和步骤：
1 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧元件目录树内需要使用 R0402 检测库的元件所在目
录（例如，1005R 目录），“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”
板块点击右侧的“检测库新建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测
库”按钮 ，在弹出的“新建检测库”对话框内输入期望的检测库的名称，例如：R0402。
（参见下图）
2 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例如，R101），“图像”
板块将自动切换至相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一
个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“缺件”，“算法”列表选择“颜色
抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置，
依次类推，分别完成侧立（亮度投射最小跨度）、立碑（亮度抽取）、反贴（亮度平均值）、通
用（全板匹配剔除）、通用（片式元件定位）、通用（窗口生
成）缺锡（亮度抽取）、虚焊（亮度抽取）、漏铜（颜色抽取）、
错件（亮度抽取）、偏移（亮度极差/亮度投射最小跨度）等
检测窗口的新建和算法参数设
置，以及“图像源”选择和窗
口大小的拖拽等。
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IC SOP QFP
2-3-6. Bad Mark
Bad Mark（拼板坏板标识）检测库主要用于自动屏蔽检测受检电路板任一拼板坏板（所谓拼板坏板
是指因板材自身来料不良而造成个别拼板报废，该报废拼板往往不贴装任何元件）。
对于一个检测程序来说，电路板有几块拼版就会有几个 Bad Mark。当 Bad Mark 检测窗口报错时，
则视其所在拼板为坏板，并且自动屏蔽检测该拼板；当 Bad Mark 检测窗口不报错时，则按正常状况检
测其所在拼板。 Bad Mark
1 鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 Bad Mark 点所在目录，在随即出现的右下方目录
属性“类型”下拉列表内选择“Bad Mark”；（参见右图）
2 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 BADMARK 点检测库的名称，例如：BADMARK。（参见下图）
3 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例
如，BADMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；
鼠标左键
单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗口，在左
下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通
用”，“算法”列表选择“颜
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色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置。 PCB
Bad Mark Bad Mark
2-3-7. SideMark
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。 AB
1 鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
2 鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
3 在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，
Side Mark
AB